芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115099186A(43)申请公布日2022.09.23(21)申请号202210784582.1(22)申请日2022.07.05(71)申请人爱芯元智半导体（上海）有限公司地址201702上海市青浦区双联路158号1幢11层B区1190室(72)发明人崔昭华(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201专利代理师罗岚(51)Int.Cl.G06F30/398(2020.01)G06F115/02(2020.01)权利要求书2页说明书9页附图4页(54)发明名称芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待验证芯片的性能数据的传输时段；根据传输时段，确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段；根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标，确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标；根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标，运行待验证芯片，以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标，由此，通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能，可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标，符合真实的周期性传输性能。CN115099186ACN115099186A权利要求书1/2页1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：获取待验证芯片的性能数据的传输时段；根据所述传输时段，确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段；根据各所述第一子时段对应的时长和设定目标性能指标，确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标；根据各所述设定目标性能指标以及各所述期望目标性能指标，运行所述待验证芯片，以得到所述待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述第一子时段对应的时长和设定目标性能指标，确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标，包括：针对每个所述第一子时段，将所述第一子时段的时长和对应的第二子时段的时长进行相比，以得到时长比值；将各所述时长比值与对应的第一子时段的设定目标性能指标的乘积，作为所述对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述传输时段，确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段，包括：将所述传输时段进行切分，以得到多个第一子时段；针对所述多个第一子时段中的任一第一子时段，在所述任一第一子时段中设置第二子时段，其中，第二子时段的时长小于所述任一第一子时段的时长。4.根据权利要求1‑3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据各所述设定目标性能指标以及各所述期望目标性能指标，运行所述待验证芯片，以得到所述待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标，包括：根据各所述设定目标性能指标以及各所述期望目标性能指标，在所述待验证芯片的验证实例中进行参数设置；根据参数设置后的验证实例，运行所述待验证芯片，以获取所述待验证芯片在各所述第一子时段的传输行为信息；根据各所述第一子时段的传输行为信息，确定待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标。5.根据权利要求1‑3中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取待验证芯片的性能数据的传输时段，包括：获取所述待验证芯片的性能数据的历史传输日志；根据所述历史传输日志，确定所述待验证芯片的性能数据的传输时段。6.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取待验证芯片的性能数据的传输时段；第一确定模块，用于根据所述传输时段，确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段；第二确定模块，用于根据各所述第一子时段对应的时长和设定目标性能指标，确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标；运行模块，用于根据各所述设定目标性能指标以及各所述期望目标性能指标，运行所述待验证芯片，以得到所述待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标。2CN115099186A权利要求书2/2页7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二确定模块，还用于：针对每个所述第一子时段，将所述第一子时段的时长和对应的第二子时段的时长进行相比，以得到时长比值；将各所述时长比值与对应的第一子时段的设定目标性能指标的乘积，作为所述对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标。8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块，还用于：将所述传输时段进行切分，以得到多个第一子时段；针对所述多个第一子时段中的任一第一子时段，在所述任一第一子时段中设置第二子时段，其中，第二子时段的时长小于所述任一第一子时段的时长。9.根据权利要求6‑8中任一项