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本申请涉及芯片验证技术领域,公开一种用于芯片验证的方法,包括:将应用固件和应用固件的长度写入多个待测芯片;将校验固件写入多个待测芯片的随机存取存储器区,触发各待测芯片按照校验固件运行;校验固件用于触发待测芯片根据应用固件的长度在待测芯片中读取并计算应用固件,获得应用固件的校验值;分别获取各校验值;根据各校验值分别确定各待测芯片下载的应用固件是否正确。这样,通过主控芯片触发各待测芯片,使各待测芯片自行根据校验固件计算校验值。主控芯片只需要读取校验值进行比较,便能确定待测芯片下载的应用固件是否正确,能够提高主控芯片验证多个待测芯片的效率。本申请还公开一种用于芯片验证的装置、电子设备、存储介质。