用于芯片验证的方法及装置、电子设备、存储介质.pdf
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本申请涉及芯片验证技术领域,公开一种用于芯片验证的方法,包括:将应用固件和应用固件的长度写入多个待测芯片;将校验固件写入多个待测芯片的随机存取存储器区,触发各待测芯片按照校验固件运行;校验固件用于触发待测芯片根据应用固件的长度在待测芯片中读取并计算应用固件,获得应用固件的校验值;分别获取各校验值;根据各校验值分别确定各待测芯片下载的应用固件是否正确。这样,通过主控芯片触发各待测芯片,使各待测芯片自行根据校验固件计算校验值。主控芯片只需要读取校验值进行比较,便能确定待测芯片下载的应用固件是否正确,能够提高主
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标,确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标,运行待验证芯片,以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标,由此,通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能,可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标,符
适用于芯片验证环境下的存储器管理方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本申请提供一种适用于芯片验证环境下的存储器管理方法、装置、电子设备和存储介质,其中,方法包括:接收芯片验证环境下任一功能模块发送的携带待存储对象信息的存储指令,其中,所述待存储对象包括所述任一功能模块在验证时的所需参数;根据所述待存储对象的信息确定所述待存储对象的待存储字符数;根据所述待存储字符数为所述待存储对象随机分配目标地址段;基于所述目标地址段将所述待存储对象写入存储器中。本申请中,通过对待存储对象的目标地址段的随机分配,使得待存储对象可以在存储器中实现随机分布,从而使得芯片的数据获取功能可以得到充
芯片设计方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种芯片设计方法,应用于芯片设计技术领域,包括:获取目标领域内应用程序的行为特征的量化值,该行为特征表示该应用程序在通用处理器上运行的过程中表现出的行为特征;根据该行为特征的量化值,构建该目标领域的通用特征模型;基于芯片评估指标,优化该目标领域的通用特征模型,得到该目标领域的定制特征模型;根据该通用特征模型和该定制特征模型,设计该目标领域的芯片。本发明还公开了一种芯片设计装置、芯片、电子设备及存储介质,其区别于通用计算芯片和专用计算芯片的设计方法,面向特定领域的芯片设计,可兼顾高灵活性和高能量
验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开关于一种验证方法、装置、电子设备及存储介质,涉及信息安全技术领域,至少解决了相关技术中存在的安全性低的问题。该验证方法包括:获取目标资源转移凭证的凭证信息;其中,目标资源转移凭证是业务服务器成功受理的资源转移凭证;确定目标资源转移凭证的第一资源转移回调信息,第一资源转移回调信息配置有至少一个待验证参数项;其中,待验证参数项对应的信息内容不同于凭证信息;向业务服务器发送第一资源转移回调信息,并接收第一回调结果信息;基于第一回调结果信息确定第一验证结果,第一验证结果用于表征业务服务器是否对至少一个待验证