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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113888510A(43)申请公布日2022.01.04(21)申请号202111162345.3(22)申请日2021.09.30(71)申请人深圳中科飞测科技股份有限公司地址518110广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301(72)发明人陈鲁李艳波王天民佟异张嵩(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201代理人尚伟净(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/70(2017.01)权利要求书2页说明书10页附图9页(54)发明名称检测方法、检测装置、检测设备及计算机可读存储介质(57)摘要本申请公开了一种检测方法、检测装置、检测设备及非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括:识别待测件图像中的多个重复图像区域;获取目标图像区域中,目标像素的目标像素值、和目标图像区域周围多个重复图像区域中,与目标像素的位置对应的参考像素的参考像素值,目标图像区域为任一重复图像区域;及根据目标像素值、多个参考像素值和预设差值阈值,确定目标像素是否为缺陷像素,预设差值阈值根据待测件图像的梯度信息确定。本申请实施方式的检测方法、检测装置、检测设备及非易失性计算机可读存储介质中由于预设差值阈值可根据待测件的图像的梯度信息确定,预设差值阈值的准确性较高,从而进一步提升缺陷像素的检测准确性。CN113888510ACN113888510A权利要求书1/2页1.一种检测方法,其特征在于,包括:识别待测件图像中的多个重复图像区域;获取目标图像区域中,目标像素的目标像素值、和所述目标图像区域周围的多个所述重复图像区域中,与所述目标像素的位置对应的参考像素的参考像素值,所述目标图像区域为任一所述重复图像区域;及根据所述目标像素值、多个所述参考像素值和预设差值阈值,确定所述目标像素是否为缺陷像素,所述预设差值阈值根据所述待测件图像的梯度信息确定。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述目标图像区域周围的多个所述重复图像区域包括与所述目标图像区域相邻的多个所述重复图像区域;或者所述目标图像区域周围的多个所述重复图像区域包括与所述目标图像区域的距离小于预定距离阈值的多个所述重复图像区域。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述目标像素值、多个所述参考像素值和预设差值阈值,确定所述目标像素是否为缺陷像素,所述预设差值阈值根据所述待测件图像的梯度信息确定,包括:获取所述目标像素值和每个所述参考像素值的差值;根据大于所述预定差值阈值的所述差值对应的所述参考像素值的数量,确定所述目标像素是否为所述缺陷像素。4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述根据大于预定差值阈值的所述差值对应的所述参考像素值的数量,确定所述目标像素是否为所述缺陷像素,包括:在所述数量大于预定数量阈值的情况下,确定所述目标像素为所述缺陷像素;及在所述数量小于预定数量阈值的情况下,确定所述目标像素为正常像素。5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,还包括:根据所述待测件图像的清晰度,调整所述预设差值阈值,所述清晰度根据所述待测件图像的所述梯度信息确定。6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述待测件图像的清晰度,调整所述预设差值阈值,包括:根据所述清晰度确定第一调整值;及根据基准差值阈值、所述第一调整值、多个所述参考像素值和所述目标像素对应的梯度信息,确定所述预设差值阈值,其中,所述基准差值阈值为预定清晰度的所述待测件图像对应的所述预设差值阈值,所述目标像素对应的梯度信息根据所述目标像素对应的多个所述参考像素的梯度信息确定。7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,还包括:将所述重复图像区域中,相邻的所述缺陷像素连通,以生成一个或多个缺陷图像区域;在所述缺陷图像区域的面积小于预定面积阈值时,确定所述缺陷图像区域中的所述缺陷像素为正常像素;及根据面积大于所述预定面积阈值的所述缺陷图像区域的形状,确定所述缺陷图像区域对应的缺陷类型。8.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述待测件图像包括电路区域和面板区域,所述面板区域由一个或多个所述重复图像区域组成,多个所述重复图像区域被所述2CN113888510A权利要求书2/2页电路区域分隔,所述识别待测件图像中的多个重复图像区域,包括:获取所述待测件图像中,像素值大于预定像素值的电路像素;将相邻的所述电路像素连通,以确定所述电路区域;及根据所述电路区域确定多个所述重复图像区域。9.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,还包括:获取多个所述重复图像区域的位置信息;判断所述位置信息是否与预设位置信息匹配;若否,则确定所述重复图像区域