片上系统芯片、测试方法及测试系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113990382A(43)申请公布日2022.01.28(21)申请号202111036811.3(22)申请日2021.09.06(71)申请人南京大鱼半导体有限公司地址210000江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦A座7层(72)发明人张召李峰朱凌王娜(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463代理人曹瑞敏(51)Int.Cl.G11C29/56(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图4页(54)发明名称片上系统芯片、测试方法及测试系统(57)摘要本申请提供一种片上系统芯片、测试方法及测试系统，涉及集成电路技术领域。该片上系统芯片包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，每个扫描链各扫描寄存器的时钟引脚连接一个数据选择器的输出引脚，各扫描寄存器的扫描使能端并联在一起，根据扫描使能信号进入测试模式；现场模式输出引脚连接数据选择器的控制引脚，数据选择器的一个输入引脚连接内部时钟，另一个输入引脚连接现场时钟输出引脚，最后一个扫描寄存器的输出引脚连接现场输入引脚，现场输出引脚用于输出采集到的目标电路模块中扫描链上多个扫描寄存器内的状态数据。CN113990382ACN113990382A权利要求书1/2页1.一种片上系统芯片，其特征在于，包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，所述每个扫描链上前一级扫描寄存器的输出引脚连接后一级扫描寄存器的串行输入引脚；所述每个扫描链上各扫描寄存器的时钟引脚连接一个所述数据选择器的输出引脚；所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端并联在一起，以根据输入的扫描使能信号进入测试模式；所述导出模块具有多个现场模式输出引脚、多个现场输入引脚、现场输出引脚、现场串行输入引脚、现场时钟输入引脚、现场时钟输出引脚；每个现场模式输出引脚连接一个所述数据选择器的控制引脚，所述数据选择器的一个输入引脚连接内部时钟，所述数据选择器的另一个输入引脚连接所述现场时钟输出引脚，所述每个扫描链上最后一个扫描寄存器的输出引脚连接一个现场输入引脚，以基于所述现场串行输入引脚的现场模式控制信号、所述现场时钟输入引脚所输入的外部时钟信号的作用下，将目标电路模块中扫描链上最后一个扫描寄存器的输出引脚连接至所述导出模块；所述现场输出引脚用于输出采集到的目标电路模块中扫描链上多个扫描寄存器内的状态数据。2.根据权利要求1所述的片上系统芯片，其特征在于，所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端用于连接外部设备，以接收所述外部设备输入的所述扫描使能信号。3.根据权利要求1所述的片上系统芯片，其特征在于，所述导出模块具有现场模式输入引脚用于连接外部设备，以接收所述外部设备输入的扫描控制信号，所述每个扫描链上各扫描寄存器的扫描使能端连接所述现场模式输入引脚，以接收所述扫描使能信号。4.一种片上系统芯片的测试方法，其特征在于，所述片上系统芯片为上述权利要求1‑3中任一所述的片上系统芯片，所述测试方法包括：所述片上系统芯片内所述每个电路模块内各扫描链在外部输入的扫描使能信号的作用下，进入测试模式；所述片上系统芯片中导出模块的现场串行输入引脚在外部输入的现场模式控制信号的作用下，通过所述现场模式控制信号对应的目标电路模块中扫描链连接的目标现场模式输出引脚，控制所述目标电路模块中的扫描链被选中；外部输入的外部时钟信号，依次通过所述导出模块的现场时钟输入引脚、现场时钟输出引脚以及所述目标电路模块中扫描链所连接的数据选择器的另一输入引脚作用至所述目标电路模块的扫描链；所述目标电路模块中扫描链上的扫描寄存器中的状态数据在所述外部时钟信号的作用下，通过所述导出模块的现场输出引脚输出。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：采用与所述导出模块的现场输出引脚连接的外部采样设备，对所述目标电路模块中扫描链在各个时钟周期下的状态数据进行记录。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述导出模块的现场串行输入引脚重新输入现场模式控制信号；基于重新输入的现场模式控制信号以及所述外部时钟信号，控制所述重新输入的现场模式控制信号对应的另一电路模块中扫描链上的扫描寄存器中的状态数据通过所述导出2CN113990382A权利要求书2/2页模块的现场输出引脚进行输出，直至所述多个电路模块依次均被选中，并获取到对应的扫描寄存器状态数据。7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述每个电路模块内各扫描链在外部输入的工作使能信号的作用下，从测试模式复位至工作模式