产品缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
一条****涛k
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相关资料
产品缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
本申请公开了一种产品缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,所述产品缺陷检测方法包括:采集待测产品的待测产品图像,并提取所述待测产品图像对应的多尺度融合特征图;根据所述多尺度融合特征图与不同关注区域的聚类模型,确定所述待测产品在各所述关注区域的差异度,其中,各所述聚类模型由正常产品在不同关注区域对应的多尺度融合特征图进行聚类得到;通过判断各所述差异度是否大于预设差异阈值,检测所述待测产品在各所述关注区域是否存在缺陷。本申请解决了对缺陷产品的识别准确度低的技术问题。
缺陷的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质.pdf
本申请实施例提供了一种缺陷的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。该方法包括:获取待检测脏污图像;通过基于变换器的语义分割模型对待检测脏污图像进行处理,以得到图像分割结果,该图像分割结果包括利用变换器算法确定的待检测脏污图像的第一特征;根据图像分割结果,确定待检测脏污图像对应的脏污缺陷类型。采用本申请,通过基于变换器的语义分割模型能够提高对脏污图像的分割能力,从而提升脏污检测的准确率。
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品.pdf
本公开涉及图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;根据所述待检测图像和所述模板图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息,确定所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息对候选框进行缺陷检测,能够提高缺陷检测的准确性。
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品.pdf
本公开涉及一种图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;获得所述待检测图像与所述模板图像的差异图像;根据所述差异图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;获得所述候选框在所述模板图像上的第一图像块,以及所述候选框在所述差异图像上的第二图像块;通过预先训练的第一神经网络对所述第一图像块和所述第二图像块进行处理,得到所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用第一神经网络对缺陷的候选框在模板图像上的第一图像块和
产品推荐方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
本发明涉及智能决策,揭露一种产品推荐方法,包括:基于第一历史点击数据及第一基本信息数据确定用户集中每个用户对应的第一特征矩阵及第一标注信息;构建产品推荐模型,产品推荐模型包括低阶组合特征提取分支及高阶组合特征提取分支,基于第一特征矩阵及第一标注信息训练产品推荐模型;基于第二历史点击数据及第二基本信息数据确定目标用户对应的第二特征矩阵;将第二特征矩阵输入训练好的产品推荐模型,得到目标用户对产品类别集中每个产品类别的预测点击率,基于预测点击率确定目标用户对应的产品推荐列表。本发明还提供一种产品推荐装置、电子设