一种图像对齐方法、装置、电子设备和存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114298902A(43)申请公布日2022.04.08(21)申请号202111459872.0(22)申请日2021.12.02(71)申请人上海闻泰信息技术有限公司地址200062上海市普陀区云岭东路89号2111-L室(72)发明人蒋海峰(74)专利代理机构北京开阳星知识产权代理有限公司11710代理人唐博(51)Int.Cl.G06T3/40(2006.01)G06V40/16(2022.01)G06V10/25(2022.01)G06V10/44(2022.01)权利要求书3页说明书15页附图5页(54)发明名称一种图像对齐方法、装置、电子设备和存储介质(57)摘要本申请涉及一种图像对齐方法、装置、电子设备和存储介质，应用于图像处理技术领域，解决现有技术中由于特征点不明显从而造成图像对齐精度不高的问题，该方法包括：获取第一图像和第二图像，从第一图像的第一感兴趣区域提取多个第一特征点，以及从第二图像的第二感兴趣区域提取多个第二特征点；将多个第一特征点与多个第二特征点进行特征匹配，确定多个第一特征点中至少一个第一目标特征点的坐标，以及确定多个第二特征点中至少一个第二目标特征点的坐标；计算用于像素映射的第一单应性矩阵；基于第一单应性矩阵将第一感兴趣区域内的每个像素点的像素值映射到第二感兴趣区域的对应像素点中，以得到图像对齐后的第一感兴趣区域。CN114298902ACN114298902A权利要求书1/3页1.一种图像对齐方法，其特征在于，包括：获取第一图像和第二图像，所述第一图像为基于所述第二图像进行全局图像对齐处理后的第一图像；从所述第一图像的第一感兴趣区域提取多个第一特征点，以及从所述第二图像的第二感兴趣区域提取多个第二特征点；所述第一感兴趣区域与所述第二感兴趣区域的大小相同，且在不同图像中的位置对应；将所述多个第一特征点与所述多个第二特征点进行特征匹配，确定所述多个第一特征点中至少一个第一目标特征点的坐标，以及确定所述多个第二特征点中至少一个第二目标特征点的坐标，所述至少一个第一目标特征点与所述至少一个第二目标特征点匹配；根据所述至少一个第一目标特征点的坐标，以及所述至少一个第二目标特征点的坐标，计算用于像素映射的第一单应性矩阵；基于所述第一单应性矩阵将所述第一感兴趣区域内的每个像素点的像素值映射到所述第二感兴趣区域的对应像素点中，以得到图像对齐后的第一感兴趣区域。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一图像，包括：获取第二图像的直方图，并确定所述第二图像中每个像素点的像素值；根据所述第二图像中每个像素点的像素值，设置第三图像中像素位置对应的像素点的像素值；根据所述第二图像中每个像素点的像素值，以及设置后的第三图像中每个像素点的像素值，提取所述第三图像中的至少一个第一角点，以及提取所述第二图像中的至少一个第二角点；将所述至少一个第一角点和所述至少一个第二角点进行特征匹配，确定所述至少一个第一角点中的第一目标角点，以及所述至少一个第二角点中的第二目标角点，所述第一目标角点与所述第二目标角点匹配根据所述第一目标角点的坐标与所述第二目标角点的坐标，计算第二单应性矩阵；基于所述第二单应性矩阵，将所述第三图像内每个像素点的像素值映射到所述第二图像的对应像素点中，得到全局图像对齐后的第一图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少一次特征匹配的次数为多次，所述将所述至少一个第一角点和所述至少一个第二角点进行特征匹配，包括：将所述至少一个第一角点和所述至少一个第二角点，以N个角点为单位，进行一次特征匹配；将所述至少一个第一角点和所述至少一个第二角点，以M个角点为单位，进行再一次特征匹配；其中，N为大于M的正整数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一目标角点的坐标与所述第二目标角点的坐标，计算第二单应性矩阵，包括：若所述第一目标角点的数量大于或等于预设数量，则根据所述第一目标角点的坐标与所述第二目标角点的坐标，计算所述第二单应性矩阵；所述方法还包括：若所述第一目标角点的数量小于预设数量，则从所述第三图像提取多个第一定向快速2CN114298902A权利要求书2/3页旋转ORB特征点，以及从所述第二图像中提取多个第二ORB特征点；将所述多个第一ORB特征点与所述多个第二ORB特征点进行特征匹配，确定所述多个第一ORB特征点中至少一个第一目标ORB特征点的坐标，以及确定所述多个第二ORB特征点中至少一个第二目标ORB特征点的坐标，所述至少一个第一目标ORB特征点与所述至少一个第二目标ORB特征点匹配；根据所述至少一个第一目标ORB特征点的坐标，以及所述至少一个第二目标ORB特征点的坐标，计算所述第二单应性矩