一种集成电路板质量分选系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115082478A(43)申请公布日2022.09.20(21)申请号202211009267.8(22)申请日2022.08.23(71)申请人凤芯微电子科技（聊城）有限公司地址252000山东省聊城市高新区九州街道松桂路华为科技园A6栋(72)发明人赵佳琦刘轶男(74)专利代理机构河南华凯科源专利代理事务所(普通合伙)41136专利代理师靳建山(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/136(2017.01)权利要求书5页说明书13页附图1页(54)发明名称一种集成电路板质量分选系统(57)摘要本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种集成电路板质量分选系统，该系统包括存储器和处理器，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现如下步骤：对目标正面图像的元件区域进行边缘检测，得到目标正面图像中的边缘像素点，进而利用霍夫圆检测得到目标正面图像中各孔洞对应的各初始圆心和对应的导线圆对应的各初始圆心，进而得到各孔洞的目标圆心；根据各孔洞的目标圆心，得到孔洞评价指标；根据各孔洞对的连接导线，得到导线评价指标；根据所述导线评价指标和所述孔洞评价指标，得到待检测集成电路板的质量指标，进而判断待检测集成电路板的质量等级。本发明实现了以较低的成本对集成电路板的质量进行更加可靠的分选。CN115082478ACN115082478A权利要求书1/5页1.一种集成电路板质量分选系统，包括存储器和处理器，其特征在于，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现如下步骤：获取待检测集成电路板的目标正面图像和目标反面图像；利用大津阈值分割算法将所述目标正面图像和目标反面图像划分为背景区域和元件区域；所述元件区域包括孔洞和导线；对目标正面图像的元件区域和目标反面图像的元件区域进行边缘检测，得到目标正面图像中的边缘像素点和目标反面图像中的边缘像素点；对目标正面图像中的边缘像素点进行霍夫圆检测，得到目标正面图像中各孔洞对应的各初始圆心和各孔洞对应的导线圆对应的各初始圆心；根据目标正面图像中各孔洞对应的各初始圆心和各孔洞对应的导线圆对应的各初始圆心，得到各孔洞的目标圆心以及各孔洞对应的初步评估指标；所述孔洞对应的导线圆为孔洞外围的导线的最外层边缘；根据各孔洞的目标圆心和目标反面图像中的边缘像素点，得到各孔洞对应的孔洞评价指标；将目标正面图像中由两条边缘线相连的两个导线圆对应的两个孔洞记为孔洞对；根据各孔洞对对应的连接导线的边缘像素点，得到各孔洞对对应的连接导线的导线评价指标；所述连接导线为孔洞对之间的两条边缘线之间的区域；根据各孔洞对对应的连接导线的导线评价指标以及各孔洞对应的初步评估指标和孔洞评价指标，得到待检测集成电路板的质量指标；根据所述质量指标，判断待检测集成电路板的质量等级。2.根据权利要求1所述的一种集成电路板质量分选系统，其特征在于，根据目标正面图像中各孔洞对应的各初始圆心和各孔洞对应的导线圆对应的各初始圆心，得到各孔洞的目标圆心以及各孔洞对应的初步评估指标，包括：对于任一孔洞：对于该孔洞对应的初始圆心z：从该孔洞对应的导线圆对应的各初始圆心中选取与初始圆心z的欧氏距离最小的初始圆心，作为初始圆心z对应的第一匹配圆心；根据该孔洞对应的初始圆心z对应的半径与对应的第一匹配圆心对应的半径，得到该孔洞对应的初始圆心z的置信度；所述半径是通过霍夫圆检测得到的；从该孔洞对应的各初始圆心中选取置信度最大的初始圆心，作为该孔洞对应的目标圆心；将该孔洞对应的除目标圆心以外的其他初始圆心删除，并统计删除的初始圆心的数量；计算所述删除的初始圆心的数量与该孔洞对应的所有初始圆心的数量的比值，并计算1与所述比值的差值，作为该孔洞对应的初步评估指标。3.根据权利要求2所述的一种集成电路板质量分选系统，其特征在于，所述得到该孔洞对应的初始圆心z的置信度的公式如下：其中，为该孔洞对应的初始圆心z的置信度，为该孔洞对应的初始圆心z对应的半径，为该孔洞对应的初始圆心z对应的第一匹配圆心的半径，为该孔洞对应的初始圆心z与对应的第一匹配圆心之间的欧氏距离，L为标准生产规格上孔洞边缘与导线圆之间所形2CN115082478A权利要求书2/5页成的圆环的距离，为第一调节因子，e为自然常数。4.根据权利要求1所述的一种集成电路板质量分选系统，其特征在于，利用大津阈值分割算法将所述目标正面图像和目标反面图像划分为背景区域和元件区域，包括：获取待检测集成电路板的初始正面图像和初始反面图像，所述初始正面图像和初始反面图像为RGB图像；所述目标正面图像为灰度化后的初始正面图像，所述目标反面图像为灰度化后的初始反面图像；分别对初始正面图像和初始反面图像进行HSV空间转化，得到初始正面图像中各像素点对