预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/8
2/8
3/8
4/8
5/8
6/8
7/8
8/8

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号CN106409939B(45)授权公告日2018.05.15(21)申请号201610998201.4(51)Int.Cl.(22)申请日2016.11.14H01L31/0352(2006.01)H01L31/075(2012.01)(65)同一申请的已公布的文献号H01L31/18(2006.01)申请公布号CN106409939A(56)对比文件(43)申请公布日2017.02.15CN102544222A,2012.07.04,摘要,权利要(73)专利权人南通大学求1,说明书0001-0069段,附图1-3.地址226019江苏省南通市啬园路9号CN102544043A,2012.07.04,摘要,说明书(72)发明人邓洪海郭兴龙杨清华杨波0001-0048段,附图1-3.王强马青兰邵海宝王志亮CN102376824A,2012.03.14,全文.尹海宏黄静李毅李雪US6555890B2,2003.04.29,全文.99485B2,2012.10.30,全文.龚海梅US82审查员林秀瑶(74)专利代理机构南京汇盛专利商标事务所(普通合伙)32238代理人吴静安权利要求书1页说明书4页附图2页(54)发明名称平面型侧向收集结构铟镓砷红外探测器芯片的制备方法(57)摘要本发明公开了平面型侧向收集结构铟镓砷红外探测器芯片的制备方法,步骤包括:1)外延材料清洗,2)淀积氮化硅扩散掩膜,3)第一次光刻,4)开扩散窗口,5)光刻胶剥离,6)闭管扩散,7)开管取片,8)第二次光刻,9)生长P电极,10)光刻胶剥离,11)淀积二氧化硅增透膜,12)P电极退火,13)第三次光刻,14)开P电极孔,15)光刻胶剥离,16)第四次光刻,17)加厚P电极,18)光刻胶剥离,19)背面抛光,20)生长N电极,21)划片。本发明制备方法制得的芯片减小了光敏元的扩散区域,可有效地减少扩散带来的热损伤,并引入双层钝化工艺减小表面复合,增加少数载流子的寿命、降低器件的暗电流和盲元率、提高探测器的探测率。CN106409939BCN106409939B权利要求书1/1页1.一种平面型侧向收集结构铟镓砷红外探测器芯片的制备方法,其特征在于,包括步骤:1)外延材料清洗,2)淀积氮化硅扩散掩膜,3)第一次光刻,4)开扩散窗口,5)光刻胶剥离,6)闭管扩散,7)开管取片,8)第二次光刻,9)生长P电极,10)光刻胶剥离,11)淀积二氧化硅增透膜,12)P电极退火,13)第三次光刻,14)开P电极孔,15)光刻胶剥离,16)第四次光刻,17)加厚P电极,18)光刻胶剥离,19)背面抛光,20)生长N电极,21)划片;其中,步骤4)开扩散窗口采用ICP干法刻蚀和氢氟酸缓冲液湿法腐蚀工艺,ICP功率2000W、RF功率40W、SF6气体流量45sccm、腔体压强9.4mTorr、温度5℃;氢氟酸缓冲液配比为体积比HF:NH4F:H2O=3:6:-410;步骤6)闭管扩散,采用粉末状Zn3As2作为扩散源,真空度为2~3×10Pa,在550℃温度下保持6min。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤2)采用等离子体增强化学气相沉积工艺淀积氮化硅扩散掩膜,衬底温度为330℃,气体流量SiH4:N2=50mL/min:900mL/min。3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤9)采用离子束溅射工艺淀积Au用作P电极,真空度为3×10-2Pa,离子束能量为100eV。4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤11)采用磁控溅射镀膜工艺淀积二氧化硅增透膜,衬底温度为80℃,RF功率为350~400W。5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:步骤17)采用离子束溅射依次淀积Cr、Au用作加厚电极,真空度为3×10-2Pa,离子束能量为100eV。2CN106409939B说明书1/4页平面型侧向收集结构铟镓砷红外探测器芯片的制备方法技术领域[0001]本发明涉及红外探测器芯片,具体涉及一种正照射平面型侧向收集结构铟镓砷红外探测器芯片的制备方法。背景技术[0002]铟镓砷短波红外探测器可以在室温下工作,在民用、军事和航空航天领域具有广泛的应用前景。目前PIN铟镓砷探测器主要分为平面型和台面型两类。台面型器件由于侧面钝化困难,导致器件可靠性降低、暗电流较大,这在很大程度上限制了器件探测率的提高。平面型探测器作为铟镓砷探测器的主流结构,主要在n-InP/i-InGaAs/n-InP外延材料中采用Zn高温扩散的方法制备器件的PN结区,具有钝化容易、暗电流低、可靠性高等优点,非常适用于航空遥感领域。但此制备工艺在高温扩散的过程中使器件表面容易形成扩散热损伤,另外在后续的热处理过程中