测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107797930A(43)申请公布日2018.03.13(21)申请号201711022405.5(22)申请日2017.10.27(71)申请人东信和平科技股份有限公司地址519060广东省珠海市南屏科技工业园屏工中路8号(72)发明人刘瀚仁徐圣刘攀(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227代理人罗满(51)Int.Cl.G06F11/36(2006.01)G06F11/26(2006.01)G06K19/067(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图1页(54)发明名称测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质(57)摘要本发明公开了一种测试智能卡功能的方法，包括构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定待测试功能接口的测试场景，在测试场景中输入测试数据，其中，测试场景为待测试功能接口的任意一种应用场景；判断测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。本发明减少了测试盲区，全方位的对待测试功能接口进行测试，可以在前期就发现问题，提高了项目质量，进而在一定程度上减少了项目开发周期。本发明还公开了一种测试智能卡功能的系统、装置及可读存储介质，具有上述有益效果。CN107797930ACN107797930A权利要求书1/2页1.一种测试智能卡功能的方法，其特征在于，包括：构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定待测试功能接口的测试场景，在所述测试场景中输入测试数据，其中，所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景；判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用所述待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述构造N个功能接口的所有应用场景的过程具体为：分别检查每个功能接口的参数和代码覆盖度，并将每个所述功能接口的参数打上TAG标签；检查用户应用业务场景，并将每个所述应用业务场景打上TAG标签；通过将所有的所述TAG标签进行排列组合来构造每个所述功能接口的所有应用场景。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述构造N个功能接口的所有应用场景之后，确定待测试功能接口的测试场景之前，该方法还包括：分别对每个功能接口的代码进行代码封装，然后均打上所述TAG标签；则所述在所述测试场景中输入测试数据的过程具体为：通过所述待测试功能接口上的TAG标签控制所述待测试功能接口打开，然后在所述测试场景中输入测试数据。4.一种测试智能卡功能的系统，其特征在于，包括：构造模块，用于构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定模块，用于确定待测试功能接口的测试场景，在所述测试场景中输入测试数据，其中，所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景；判断模块，用于判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，触发调用模块，若否，触发报警模块；所述调用模块，用于调用所述待测试功能接口；所述报警模块，用于发送报警信息。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述构造模块具体用于分别检查每个功能接口的参数和代码覆盖度，并将每个所述功能接口的参数打上TAG标签；检查用户应用业务场景，并将每个所述应用业务场景打上TAG标签；通过将所有的所述TAG标签进行排列组合来构造每个所述功能接口的所有应用场景。6.根据权利要求4或5所述的系统，其特征在于，该系统还包括隔离模块，用于分别对每个功能接口的代码进行代码封装，然后均打上所述TAG标签；则所述确定模块具体用于通过所述待测试功能接口上的TAG标签控制所述待测试功能接口打开，然后在所述测试场景中输入测试数据。7.一种测试智能卡功能的装置，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至3任意一项所述测试方法的步骤。8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机2CN107797930A权利要求书2/2页程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任意一项所述测试方法的步骤。3CN107797930A说明书1/5页测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质技术领域[0001]本发明涉及智能卡领域，特别是涉及一种测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质。背景技术[0002]目前随着金卡工程建设的不断深入发展，智能卡已在众多领域获得广泛应用，并取得了初步的社会效益和经济效益。在智能卡的开发过程中，需要提前对智能卡能实现的功能进行测试，目前针对智能卡功能的测试，一般是在开发后期集成测试阶段进行。但是，集成测试阶段进行联调的功能接口过多，可能无法将某