一种激光测距的校准装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105785344A(43)申请公布日2016.07.20(21)申请号201610257310.0(22)申请日2016.04.22(71)申请人杜鑫地址213000江苏省常州市新北区天山路88号(72)发明人杜鑫(74)专利代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257代理人王倩(51)Int.Cl.G01S7/497(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图2页(54)发明名称一种激光测距的校准装置(57)摘要本发明公开了一种激光测距的校准装置，包括校正光路发射装置、测量光路发射装置、校正光路接收装置和测量光路接收装置；校正光路发射装置用于发射校正信号，且校正信号在装置内部传导后，一部分被校正光路接收装置接收，另一部分被所述测量光路接收装置所接收；测量光路发射装置用于发射测量信号，其中一部分信号在装置内部传导后被校正光路接收装置接收，另一部分信号在装置外部经被测目标反射后，被测量光路接收装置所接收。本发明通过设置校正光路发射装置和测量光路发射装置两个发射装置，降低元器件的要求和成本的同时，使得装置内硬件布线更加灵活，降低维修成本，且方便组装，更具有实用价值。CN105785344ACN105785344A权利要求书1/1页1.一种激光测距的校准装置，其特征在于，包括校正光路发射装置(1)、测量光路发射装置(2)、校正光路接收装置(3)和测量光路接收装置(4)；所述校正光路发射装置(1)用于发射校正信号，且所述校正信号在装置内部传导后，一部分被所述校正光路接收装置(3)接收，另一部分被所述测量光路接收装置(4)所接收；所述测量光路发射装置(2)用于发射测量信号，其中一部分信号在装置内部传导后被所述校正光路接收装置(3)接收，另一部分信号在装置外部经被测目标(9)反射后，被所述测量光路接收装置(4)所接收。2.根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，还包括分光器(5)，所述分光器(5)与所述校正光路发射装置(1)的发射端连接，将所述校正光路发射装置(1)所发射的校正信号分为两路测量信号，分别被所述校正光路接收装置(3)和测量光路接收装置(4)接收。3.根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，还包括至少一个反射装置(6)，所述反射装置(6)用于将所述校正光路发射装置(1)和所述测量光路发射装置(2)所发射的信号分别反射至所述校正光路接收装置(3)和测量光路接收装置(4)。4.根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述校正光路接收装置(3)和测量光路接收装置(4)均为雪崩二极管。5.根据权利要求3所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述反射装置(6)为反射镜或光栅。6.根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述测量光路发射装置(2)与被测目标(9)间还设置有防尘镜(7)。7.根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述被测目标(9)与所述测量光路接收装置(4)间还设置有接收透镜(8)。8.根据权利要求2所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述分光器(5)为导光管或光纤。2CN105785344A说明书1/3页一种激光测距的校准装置技术领域[0001]本发明属于光电测距领域，特别涉及一种激光测距的校准装置。背景技术[0002]激光测距，由于其测量精度高可达毫米级别，而在200米内的短距离激光测距中得到广泛应用。基于测相位差原理的激光测距，是用调制的激光光束照射被测目标，激光光束经被测目标反射后折回，将激光光束往返过程产生的相位变化换算成被测目标的距离，其测量的准确性和精度受测距装置内部零件特性的影响。激光测距仪器的精度要求越高，其电路的复杂程度与精密器件的需求就大大提高。因此，由于环境因素如温度，以及器件使用寿命对器件性能造成影响后所导致器件所产生的相位漂移，不可忽视。[0003]现有技术一般采用测量与校正光路的相位差补偿原理消除电路系统的附加相移，确保测量数据不受外界环境因素影响。消除附加相移的相位差补偿原理，如下：[0004]设测距信号先后经过校正光路与测量光路形成所滞后的相位差各为与为仪器内部电子线路在传送信号过程中产生的附加相移，则内、外测量光路测距信号Φ内与Φ外在相位器中分别于参考信号的比较结果为：[0005][0006][0007]上述中，随仪器工作状态变化而变化，为随机相移，无法通过精确计算求解，在测距时，交替使用内、外测量光路进行测相，在交替过程的短时间内，可以认为附加相移没有变化，于是取内、外测量光路比较结果的差值作为测量结果，即：[0008][0009]以上结果Φ已经消除了附加相移不稳定的影响，从而保证了测距的精度。[0010]对于上述附加相移的消