一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110187001A(43)申请公布日2019.08.30(21)申请号201910427705.4(22)申请日2019.05.22(71)申请人西红柿科技（武汉）有限公司地址430074湖北省武汉市东湖开发区花城大道9号软件新城A3栋1楼(72)发明人卢永雄阮鸥陆智明王康黄威王子豪赵琴关江浩凌威(74)专利代理机构深圳市知顶顶知识产权代理有限公司44504代理人马世中(51)Int.Cl.G01N27/82(2006.01)G01N27/83(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图2页(54)发明名称一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法(57)摘要本发明适用于无损检测技术领域，提供一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。本发明可以区分上表面焊瘤和腐蚀坑，有利于排除焊瘤对检测信号的干扰；另外结合漏磁检测技术，可以进一步区分缺陷在上表面或下表面，可以确定缺陷的位置，更准确的评估储罐的剩余寿命；另外，在缺陷定量方面，可以确定缺陷的深度；此外，对于缺陷形貌的检测更准确，同时麻坑太多时的检测问题也得到了解决，通过表面磁导技术所得数据，可以检测出上表面的蜂窝麻面。CN110187001ACN110187001A权利要求书1/1页1.一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。2.如权利要求1所述采用表面磁导技术的缺陷检测装置，其特征在于，所述两块磁铁之间设置有漏磁检测传感器。3.一种采用表面磁导技术的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法采用如权利要求1或2所述的缺陷检测装置实现，所述方法包括下述步骤：操作缺陷检测装置在待检测对象表面扫描，扫描过程中保持缺陷检测装置与待检测对象一定提离值不变；在扫描过程中，如果磁敏元件输出的信号值变小，则判定当前磁敏元件对应待检测对象上表面位置出现了腐蚀坑，如果磁敏元件输出的信号值变大，则判定当前磁敏元件对应待检测对象上表面位置出现了焊瘤。4.如权利要求3所述采用表面磁导技术的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤：在扫描过程中，如果漏磁检测传感器检测到有漏磁信号，这里当前漏磁检测传感器对应待检测对象位置称为漏磁位置，操作缺陷检测装置使得磁敏元件经过该漏磁位置，如果磁敏元件输出的信号值不变，则判断当前待检测对象漏磁位置下表面出现了腐蚀坑。2CN110187001A说明书1/5页一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法技术领域[0001]本发明属于无损检测技术领域，尤其涉及一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法。背景技术[0002]漏磁检测是一种快速、方便的扫描技术。日常生活和生产中，经常可见其应用于储罐、管道等检测。储罐、管道等这类特种设备，因为盛装具有腐蚀性的原料等，或者在高温高压高湿等极端条件上长期运行，所以比较容易出现腐蚀等缺陷。对这些大大小小的腐蚀缺陷的检测和评估，是保障其安全运行的必要手段。漏磁检测技术因为其快速、方便的特征，被广泛用于特种设备的检测和评估。[0003]目前漏磁检测技术，存在如下问题：[0004]1、只能检测到某个位置附近存在缺陷，无法区分缺陷是腐蚀坑还是焊瘤。[0005]2、漏磁检测技术不具备区分缺陷具体位置的功能，主要表现为无法区分缺陷在上表面还是下表面的问题，同时更难以对缺陷深度进行精确定量。而对于储罐剩余寿命的评估，都需要知道现有缺陷的腐蚀速度。而上下表面缺陷的腐蚀速度大大不同。在不能区分上下表面缺陷的情况下，就不能准确的评估储罐的剩余寿命，业主也不能拟定更合适的修理方案。因而上下表面缺陷的区分，对剩余寿命评估非常重要。[0006]3、漏磁检测技术无法确定缺陷形貌。漏磁检测因为漏磁场的非局域性(Non-localized)，一个很小的物理缺陷，反映在漏磁信号上，可能是一个比较大的缺陷，这样就不好确定缺陷的实际形貌。[0007]4、漏磁检测技术无法区分蜂窝麻面(麻坑)。上表面出现蜂窝麻面的时候，因为漏磁信号的非局域性，大面积的麻面成为了一个整体，漏磁检测技术无法区分。发明内容[0008]鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法，旨在解决上述漏磁检测技术存在的问题。[0009]一方面，所述采用表面磁导技术的缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。[0010]进一步的，所述两块磁铁之间设置有漏磁检测传感器。[0