磁瓦表面缺陷检测与分拣方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109701890A(43)申请公布日2019.05.03(21)申请号201811502939.2(22)申请日2018.12.10(71)申请人湖南航天天麓新材料检测有限责任公司地址410600湖南省长沙市宁乡市高新技术产业园区金州北路001号(72)发明人单树军胡兴李志娟宋继湘谭淳效左杰刘霄云刘泉唐顺海(74)专利代理机构长沙正奇专利事务所有限责任公司43113代理人郭立中王娟(51)Int.Cl.B07C5/34(2006.01)B07C5/36(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称磁瓦表面缺陷检测与分拣方法(57)摘要本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检测与分拣方法，采用高精度激光轮廓仪对磁瓦进行扫描，获取磁瓦表面高度信息，不受磁瓦表面形状的影响，能够有效的排除磁瓦表面水渍和磨痕对检测的干扰，对各种细微的缺陷都能进行有效的检测。同时通过一次扫描即可获得磁瓦所有需检测面的信息，进行高效检测。CN109701890ACN109701890A权利要求书1/1页1.一种磁瓦表面缺陷检测与分拣方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在各工位对应激光头扫描线前面设置一个光电传感器，光电传感器感应到磁瓦到来发送信号给PLC，对PLC指令解析，给采集的磁瓦进行编号；2)提取磁瓦表面轮廓信息数据，去除输送皮带无效数据；磁瓦包含多个面的形状，对提取的磁瓦表面轮廓信息数据进行相关的数据计算处理，将磁瓦轮廓各面彼此分割出来，形成多个区域，对每个区域的有效数据进行阈值分割，提取缺陷特征，然后针对这些缺陷特征以及参考磁瓦各面特征情况不同，设定不同的特征参数，形成各面缺陷判定准则，从而利用各面缺陷判定准则识别磁瓦缺陷；3)在每个工位距离检测装置一定位置处，安装磁瓦剔除机构，在磁瓦剔除机构前面安装一个光电传感器，每片磁瓦经过检测后，发送带有磁瓦编号的检测结果，以指令形式给PLC，PLC通过解析结果指令将磁瓦编号的检测结果根据编号存储起来，当检测后的磁瓦经过磁瓦剔除机构附近的光电传感器，该处光电传感器发送信号给PLC，PLC根据该处光电传感器所给的编号获取对应编号磁瓦的检测结果，如果检测结果表示磁瓦有缺陷，则控制磁瓦剔除机构快速剔除该磁瓦，检测结果显示合格，则剔除机构不动作。2.根据权利要求1所述的磁瓦表面缺陷检测与分拣方法，其特征在于，磁瓦两端倒角的阈值为2-2.7，磁瓦正面的阈值为0.6-1。2CN109701890A说明书1/3页磁瓦表面缺陷检测与分拣方法技术领域[0001]本发明涉及磁瓦表面缺陷检测与分拣方法。背景技术[0002]磁性材料，如铁氧体磁性材料、铷铁硼磁性材料等，在成型和磨削过程中都会产生各种类型的缺陷，如裂纹，掉块，波纹等，影响产品质量。所以在生产加工过程中，必须对每块磁瓦进行检查是否存在缺陷。目前一般仍采用人工目检的方法，劳动强度大，分拣速度慢，容易出错。开发一种磁性材料表面缺陷自动检测识别技术，是磁性材料生产企业的必然需求与趋势。[0003]针对磁瓦表面缺陷检测，目前普遍采用机器视觉的方法。该技术针对磁瓦表面不同的缺陷，进行光源和打光方式的设计，使得相关缺陷和基体之间对光线呈现不同的反射，采用工业相机进行拍摄，获取磁瓦表面灰度图像，如果磁瓦表面有相关缺陷，在图像上则会显示出不同的灰度。设计相关算法，利用图像灰度不同，进行相关缺陷检测与识别。[0004](1)由于生产现场的因素，磁瓦在清洗后，空气中的粉尘会粘附在磁瓦表面，干燥后便会形成水渍，水渍在拍摄的灰度图像上和裂纹相似，对裂纹的检测产生干扰；[0005](2)磁瓦在磨削过程中，会在表面形成条状的划痕，容易被误判成缺陷；[0006](3)由于磁瓦有很多个面，每个面上都可能存在缺陷，因此要对每个面进行检查，因此需要设置多个检查工位，成本高，检测效率低，同时还会提高整体误检率；[0007](4)由于磁瓦表面存在弧面，对于弧面上的缺陷，由于位置的不同，在灰度图像上呈现出的灰度不同，造成漏判；[0008](5)磁瓦表面存在一些非常细小的空洞或者裂纹，采用当前技术不能进行有效检测。发明内容[0009]本发明所要解决的技术问题是，针对现有技术不足，提供一种磁瓦表面缺陷检测与分拣方法，不受磁瓦表面形状的影响，有效的排除磁瓦表面水渍和磨痕对检测的干扰，对各种细微的缺陷进行有效的检测。[0010]为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种磁瓦表面缺陷检测与分拣方法，包括以下步骤：[0011]1)在各工位对应激光头扫描线前面设置一个光电传感器，光电传感器感应到磁瓦到来发送信号给PLC，对PLC指令解析，给采集的磁瓦进行编号；[0012]2)提取磁瓦表面轮廓信息数据，去除输送皮带无效数据；磁瓦