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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102677175A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102677175A(43)申请公布日2012.09.19(21)申请号201210167241.6(22)申请日2012.05.28(71)申请人上海应用技术学院地址200235上海市徐汇区漕宝路120号(72)发明人房永征金敏徐家跃张娜王占勇张彦江国健(74)专利代理机构上海申汇专利代理有限公司31001代理人吴宝根(51)Int.Cl.C30B29/42(2006.01)C30B11/00(2006.01)权利要求书权利要求书11页页说明书说明书22页页(54)发明名称一种砷化镓单晶的生长方法(57)摘要本发明公开了一种砷化镓单晶的生长方法。即将砷化镓多晶原料放入预先放置籽晶的PNB坩埚内,然后将PNB坩埚置于生长炉内的下降台上,下降台上放置1~5根PNB坩埚,调整生长炉炉体温度处于1200~1300℃,使籽晶顶部熔化后将下降台下降的同时并旋转,晶体生长结束后将PNB坩埚移至生长炉内的恒温区对GaAs晶体实行原位退火,退火过程控制生长炉内的温度为950~1100℃、时间为8~12h,然后再以20~70℃/h的速率降至室温,即得到GaAs单晶。本发明的一种砷化镓单晶的生长方法,生长的晶体热应力小和均匀性好,且位错密度较低。CN102675ACN102677175A权利要求书1/1页1.一种砷化镓(GaAs)单晶的生长方法,其特征在于具体包括以下步骤:(1)、将砷化镓多晶原料放入预先放置籽晶的PNB坩埚内,然后将PNB坩埚置于生长炉内的下降台上;(2)、下降台上放置1~5根PNB坩埚,调整生长炉炉体温度处于1200~1300℃,使籽晶顶部熔化;(3)、步骤(2)籽晶顶部熔化后将下降台下降的同时并旋转,反应10~15h后,晶体生长结束;(4)、步骤(3)晶体生长结束后,将PNB坩埚移至生长炉内的恒温区,对GaAs晶体实行原位退火,退火过程控制生长炉内的温度为950~1100℃、时间为8~12h,然后再以20~70℃/h的速率降至室温,即得到GaAs单晶。2.如权利要求1所述的一种砷化镓单晶的生长方法,其特征在于步骤(3)中所述的下降台下降的同时并旋转,其旋转速度为0.1~1r/h。2CN102677175A说明书1/2页一种砷化镓单晶的生长方法技术领域[0001]本发明涉及晶体生长领域,特别涉及砷化镓单晶的生长方法。背景技术[0002]砷化镓(GaAs)是化合物半导体中最重要、用途最广泛的半导体材料之一,也是目前研究得最成熟、生产量最大的化合物半导体材料。由于砷化镓具有电子迁移率高(是硅的5~6倍)、禁带宽度大(它为1.43eV,硅为1.1eV)且为直接带隙的特点,容易制成半绝缘材料、本征载流子浓度低、光电特性好,还具有耐热、抗辐射性强及对磁场敏感等优良特性。用砷化镓材料制作的器件频率响应好、速度快、工作温度高,能满足集成光电子的需要。它是目前最重要的光电子材料,也是继硅材料之后最重要的微电子材料,适于制造高频、高速器件和电路。[0003]GaAs单晶生长工艺经过几代科学家半个世纪的努力,已开发出了许多生长GaAs单晶的方法。现在应用较多的工业化生长工艺主要有液封直拉法(LEC)、水平布里支曼法HB)、垂直梯度凝固法/垂直布里支曼法(VGF/VB)和蒸气压控制直拉法(VCZ)。上述几种生长方法各有其优缺点。目前制约GaAs晶体大规模应用的一个重要原因是GaAs生产效率低,成本较高。因而人们提出了GaAs晶体的多坩埚制备方法,可以一炉同时制备多根晶体,极大地提高了生产效率,降低了成本,同时也显著降低了能耗。但是其缺点是所得GaAs晶体缺陷较多,如存在孪晶,热应力大,位错密度高等缺陷。发明内容[0004]本发明的目的为了解决上述的技术问题而提出一种GaAs单晶的生长方法,它能生长出位错密度低、热应力小和均匀性好的GaAs单晶。[0005]本发明采用的技术方案一种砷化镓(GaAs)单晶的生长方法,具体包括以下步骤:(1)、将砷化镓多晶原料放入预先放置籽晶的PNB坩埚内,然后将PNB坩埚置于生长炉内的下降台上;(2)、下降台上放置1~5根PNB坩埚,调整生长炉炉体温度处于1200~1300℃,使籽晶顶部熔化;(3)、步骤(2)籽晶顶部熔化后将下降台下降的同时并旋转,优选旋转速度为0.1~1r/h,反应10~15h后,晶体生长结束;(4)、步骤(3)晶体生长结束后,将PNB坩埚移至生长炉内的恒温区,对GaAs晶体实行原位退火,退火过程控制生长炉内的温度为950~1100℃、时间为8~12h,然后再以20~70℃/h的速率降至室温,即得到GaAs单晶。[0006]本发明的有益效果本发明的一种砷化镓(GaAs)单晶的生长方法,由于生长炉