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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103534547103534547A(43)申请公布日2014.01.22(21)申请号201280010787.9(51)Int.Cl.(22)申请日2012.02.27F27D21/00(2006.01)C21D1/00(2006.01)(30)优先权数据F27D9/00(2006.01)2011-0417922011.02.28JPF27D21/02(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日G01J5/00(2006.01)2013.08.28G01J5/06(2006.01)C21D1/667(2006.01)(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2012/0547932012.02.27(87)PCT国际申请的公布数据WO2012/118016JA2012.09.07(71)申请人株式会社IHI地址日本东京都申请人IHI机械系统股份有限公司(72)发明人胜俣和彦井上纯治岛田嵩久工藤晋也上田亚实(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公司72001代理人马友鹏杨楷权权利要求书1页利要求书1页说明书8页说明书8页附图8页附图8页(54)发明名称热处理品的温度测定装置和温度测定方法(57)摘要具备测定用窗(32)和温度传感器(34),该测定用窗(32)能够直视设于热处理炉(10)的热处理品(1)的被测定面(1a),该温度传感器(34)设于测定用窗的外侧,并能够通过测定用窗而非接触地测定被测定面(1a)的表面温度。温度传感器(34)具有水的吸收率少的测定波长域(例如1.95μm~2.5μm)。另外,测定用窗(32)由在上述测定波长域具有高的透射率的窗材(例如锗)构成。CN103534547ACN103547ACN103534547A权利要求书1/1页1.一种热处理品的温度测定装置,该热处理品收容于热处理炉内,该热处理炉具备以包含冷却液的液滴的雾气来进行冷却的喷雾冷却装置,该热处理品的温度测定装置具备测定用窗和温度传感器,该测定用窗能够直视设于所述热处理炉的所述热处理品的被测定面,该温度传感器设于该测定用窗的外侧,并能够通过测定用窗而非接触地测定所述被测定面的表面温度,所述温度传感器具有水的吸收率不满100%的测定波长域,所述测定用窗由在所述测定波长域具有高于0%的透射率的窗材构成。2.根据权利要求1所述的温度测定装置,具备温度修正装置,该温度修正装置基于热处理品的放射率的修正系数、窗材的透射率的修正系数、或者雾气浓度的修正系数而修正由所述温度传感器测定的温度测定值。3.根据权利要求1或2所述的温度测定装置,所述温度传感器为具有1.95μm~2.5μm的测定波长域的红外线温度传感器。4.根据权利要求1~3中的任一项所述的温度测定装置,所述测定用窗的窗材以锗、硅、硒化锌、蓝宝石或石英作为主要成分。5.根据权利要求1~4中的任一项所述的温度测定装置,所述测定用窗相对于水平而向下倾斜地设于所述热处理炉。6.一种热处理品的温度测定方法,该热处理品收容于热处理炉内,该热处理炉具备以包含冷却液的液滴的雾气来进行冷却的喷雾冷却装置,该温度测定方法包括:(A)选定温度传感器和窗材,该温度传感器将水的吸收率不满100%的波长域作为测定波长域,能够非接触地测定热处理品的被测定面的表面温度,该窗材在该波长域具有高于0%的透射率,(B)通过由所述窗材构成的测定用窗而由所述温度传感器测定热处理品的被测定面的表面温度。7.根据权利要求6所述的温度测定方法,基于热处理品的放射率的修正系数、窗材的透射率的修正系数、或者雾气浓度的修正系数而修正由所述温度传感器测定的温度测定值。2CN103534547A说明书1/8页热处理品的温度测定装置和温度测定方法技术领域[0001]本发明涉及处于加热后的喷雾冷却中的热处理品的温度测定装置和温度测定方法。背景技术[0002]作为将作为热处理品的金属材料在加热后冷却的手段,已知水冷、油冷、气体冷却、喷雾冷却等。[0003]其中,喷雾冷却为将热处理品包围地配置多个喷嘴,喷雾式地从喷嘴供给冷却液,由包含冷却液的雾气来冷却被处理物。此外,雾气意味着包含冷却液的液滴的气体。[0004]在例如专利文献1中公开了热处理品的温度计测手段。另外,在例如专利文献2、3中公开了喷雾冷却和处于喷雾冷却中的热处理品的温度计测手段。[0005]专利文献1公开了一种方法,该方法通过在具有与热处理品同等的特性的模拟样品的内部设置温度传感器(热电偶)并计测模拟样品的温度,从而与直接计测热处理品的温度同样地管理热处理品的正确的温度。[0006]专利文献2、3列举了作为处于喷雾冷却中的热处理品的温度计测手段而设于热处理品的表面的热电偶和如