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缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品.pdf
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本公开涉及图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;根据所述待检测图像和所述模板图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息,确定所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息对候选框进行缺陷检测,能够提高缺陷检测的准确性。
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本公开涉及一种图像数据处理技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像;获得所述待检测图像与所述模板图像的差异图像;根据所述差异图像,确定所述待检测图像中的缺陷的候选框;获得所述候选框在所述模板图像上的第一图像块,以及所述候选框在所述差异图像上的第二图像块;通过预先训练的第一神经网络对所述第一图像块和所述第二图像块进行处理,得到所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用第一神经网络对缺陷的候选框在模板图像上的第一图像块和
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微管缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品.pdf
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