III族氮化物半导体激光元件.pdf
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III族氮化物半导体激光元件及III族氮化物半导体激光元件的制造方法.pdf
提供一种可改善振荡成品率的结构的III族氮化物半导体激光元件。在第一及第二割断面(27、29)各自呈现支撑基体(17)的端面(17c)及半导体区域(19)的端面(19c)。激光结构体(13)包括第一及第二面(13a、13b),第一面(13a)为第二面(13b)的相反侧的面。第一及第二割断面(27、29)分别从第一面(13a)的边缘延伸至第二面(13b)的边缘。半导体区域(19)包含InGaN层(24)。半导体区域(19)可包含InGaN层(24)。割断面(29)包括设置于InGaN层(24)的端面(24a
III族氮化物半导体激光元件.pdf
在具有在包含开口的电流限制层上再生长有p型包覆层的结构的III族氮化物半导体激光元件中,减小由存在于半极性的再生长界面的n型杂质引起的影响。半导体激光元件(10)具有n型半导体区域(14)、活性层(16)、第一p型半导体区域(18)、电流限制层(20)以及第二p型半导体区域(22)。第二p型半导体区域(22)是在形成电流限制层(20)的开口(20a)之后再生长在第一p型半导体区域(18)上和电流限制层(20)上的区域。第一p型半导体区域(18)中的与第二p型半导体区域(22)的界面包含III族氮化物半导体
III族氮化物半导体激光元件、及制作III族氮化物半导体激光元件的方法.pdf
本发明提供一种III族氮化物半导体激光元件,其在六方晶系III族氮化物的c轴向m轴方向倾斜的支持基体的半极性面上,具有可实现低阈值电流的激光谐振器。激光构造体(13)中,第1面(13a)为第2面(13b)的相反侧的面,第1及第2割断面(27、29)从第1面(13a)的边缘(13c)延伸至第2面(13b)的边缘(13d)。而且,在例如第1割断面(27)的一端,具有从边缘(13c)延伸至边缘(13d)的刻划痕(SM1),刻划痕(SM1)等具有从边缘(13c)延伸至边缘(13d)的凹形状。割断面(27、29)并
III族氮化物半导体激光元件、制作III族氮化物半导体激光元件的方法、评价III族氮化物半导体激光元件的光谐振器用的端面.pdf
在III族氮化物的c轴向m轴的方向倾斜的基板的半极性面上具有能够减少反馈光的扰乱的激光谐振器的III族氮化物半导体激光器中,在角度ALPHA为71度以上且79度以下的范围时,角度α1为10度以上且25度以下的范围,角度β1为0度以上且5度以下的范围。在与外延面靠近的第一面附近的第一端面中,在m-n面内,第一法线矢量ENV1与c+轴矢量VC+所成的角度具有接近角度α1的值(例如10度以上且25度以下的范围)。在基板背面附近的第一端面中,在m-n面内,第二法线矢量ENV2与c+轴矢量VC+所成的角度具有接近角
III族氮化物半导体激光元件.pdf
能够提供一种可减少为了得到所希望的光输出所需的工作电流的III族氮化物半导体激光元件。根据III族氮化物半导体激光元件(11),将光谐振器的第一反射膜(43a)以具有小于60%的反射率的方式形成,并将光谐振器的第二反射膜(43b)以具有85%以上的反射率的方式形成。因而,能够避免阈值电流的增加引起的振荡特性的劣化,并且能够避免光谐振器内的光密度的空间的不均匀的发生。在两端面(26、28)的反射率过低时,由于镜面损耗的增加而阈值电流增加。在两端面(26、28)的反射率过高时,由于光谐振器内的光密度的空间的不