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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102341977A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102341977A(43)申请公布日2012.02.01(21)申请号201080010475.9(74)专利代理机构中原信达知识产权代理有限(22)申请日2010.11.16责任公司11219代理人谢丽娜关兆辉(30)优先权数据2010-0084142010.01.18JP(51)Int.Cl.H01S5/343(2006.01)(85)PCT申请进入国家阶段日2011.09.02(86)PCT申请的申请数据PCT/JP2010/0703722010.11.16(87)PCT申请的公布数据WO2011/086756JA2011.07.21(71)申请人住友电气工业株式会社地址日本大阪府(72)发明人高木慎平善积祐介片山浩二上野昌纪池上隆俊权利要求书3页说明书18页附图19页(54)发明名称III族氮化物半导体激光元件、及制作III族氮化物半导体激光元件的方法(57)摘要本发明提供一种III族氮化物半导体激光元件,其在六方晶系III族氮化物的c轴向m轴方向倾斜的支持基体的半极性面上,具有可实现低阈值电流的激光谐振器。激光构造体(13)中,第1面(13a)为第2面(13b)的相反侧的面,第1及第2割断面(27、29)从第1面(13a)的边缘(13c)延伸至第2面(13b)的边缘(13d)。而且,在例如第1割断面(27)的一端,具有从边缘(13c)延伸至边缘(13d)的刻划痕(SM1),刻划痕(SM1)等具有从边缘(13c)延伸至边缘(13d)的凹形状。割断面(27、29)并非由干式蚀刻形成,与c面、m面或者a面这些目前为止的裂面不同。可利用能实现低阈值电流的能带跃迁的发光。CN1023497ACCNN110234197702341991A权利要求书1/3页1.一种III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,包含:激光构造体,该激光构造体包括:由六方晶系III族氮化物半导体构成,且具有半极性主面的支持基体、以及设于上述支持基体的上述半极性主面上的半导体区域;以及电极,该电极设于上述激光构造体的上述半导体区域上,上述半导体区域包括:由第1导电型氮化镓系半导体构成的第1包覆层、由第2导电型氮化镓系半导体构成的第2包覆层、以及设于上述第1包覆层与上述第2包覆层之间的活性层,上述第1包覆层、上述第2包覆层及上述活性层沿着上述半极性主面的法线轴排列,上述活性层包含氮化镓系半导体层,上述支持基体的上述六方晶系III族氮化物半导体的c轴,相对于上述法线轴向上述六方晶系III族氮化物半导体的m轴方向以有限的角度ALPHA倾斜,上述角度ALPHA在45度以上80度以下、或100度以上135度以下的范围,上述激光构造体包含与由上述六方晶系III族氮化物半导体的m轴及上述法线轴规定的m-n面交叉的第1及第2割断面,该III族氮化物半导体激光元件的激光谐振器包含上述第1及第2割断面,上述激光构造体包含第1及第2面,上述第2面为上述第1面的相反侧的面,上述半导体区域位于上述第1面与上述支持基体之间,上述第1及第2割断面分别从上述第1面的边缘延伸至上述第2面的边缘,上述激光构造体在上述第1割断面的一端,具有从上述第1面的边缘延伸至上述第2面的边缘的刻划痕,上述刻划痕具有从上述第1面的边缘延伸至上述第2面的边缘的凹形状。2.如权利要求1所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,在上述第1及第2割断面分别出现上述支持基体的端面及上述半导体区域的端面,上述半导体区域的上述活性层的端面与正交于由上述六方晶系氮化物半导体构成的支持基体的m轴的基准面所成角度,在由上述III族氮化物半导体的c轴及m轴规定的第1平面中成(ALPHA-5)度以上(ALPHA+5)度以下的范围的角度。3.如权利要求1或2所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,上述角度在与上述第1平面及上述法线轴正交的第2平面在-5度以上+5度以下的范围。4.如权利要求1至3中任一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,上述支持基体的厚度为50μm以上150μm以下。5.如权利要求1至4中任一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,上述法线轴与上述六方晶系III族氮化物半导体的c轴所成的角度在63度以上80度以下、或100度以上117度以下的范围。6.如权利要求1至5中任一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,来自上述活性层的激光向上述六方晶系III族氮化物半导体的a轴方向偏光。7.如权利要求1至6中任一项所述的III族氮化物半导体激光元件,其中,该III族氮化物半导体激光元件的LED模式下的光,在上述六方晶系III族氮化物半导体的a轴方向上包含偏光成分I1,并在将上述六方晶系III族氮化物