一种用于TFT-LCD外观检测的光学成像装置和成像系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115825094A(43)申请公布日2023.03.21(21)申请号202211310326.5(22)申请日2022.10.25(71)申请人蚌埠国显科技有限公司地址233000安徽省蚌埠市禹会区天河路1202号申请人深圳百迈技术有限公司(72)发明人丁春江刘顾全黄奇欧木兰(74)专利代理机构合肥金律专利代理事务所(普通合伙)34184专利代理师段晓微(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)G01N21/88(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图2页(54)发明名称一种用于TFT-LCD外观检测的光学成像装置和成像系统(57)摘要本发明公开了一种用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置和光学成像系统，传送机构包括多个依次平行布置的传送辊，在多个传送辊上形成检测位，相邻两个传送辊间隔布置；第一明场成像组件、第二明场成像组件和暗场成像组件沿传送机构的传送方向依次布置，第一明场成像组件位于传送辊上方。通过上述优化设计的TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，通过三组线扫相机镜头和三组线形光源的形成正面明场、反面明场与正面暗场的光学方案，动态完成TFT‑LCD液晶板外观缺陷检测，保证了单个产品多种不良的一次性检出，空间利用率高。CN115825094ACN115825094A权利要求书1/2页1.一种用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，包括：传送机构、第一明场成像组件、第二明场成像组件和暗场成像组件；传送机构包括多个依次平行布置的传送辊(4)，在多个传送辊(4)上形成检测位，相邻两个传送辊(4)间隔布置；第一明场成像组件、第二明场成像组件和暗场成像组件沿传送机构的传送方向依次布置，第一明场成像组件位于传送辊(4)上方，第一明场成像组件包括沿平行于传送辊(4)方向延伸的第一明场线形光源(31)和位于第一明场线形光源(31)的反射光场内的第一明场线扫相机(11)，第二明场成像组件位于传送辊(4)下方，第二明场成像组件包括沿平行于传送辊(4)方向延伸的第二明场线形光源(32)和位于第二明场线形光源(32)的反射光场内的第二明场线扫相机(12)，暗场成像组件位于传送辊(4)上方，暗场成像组件包括沿平行于传送辊(4)方向延伸的暗场线形光源(33)和位于暗场线形光源(33)的反射光场一侧的暗场线扫相机(13)。2.根据权利要求1所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，还包括第一支架(51)，第一支架(51)上设有第一弧形轨道，第一明场线扫相机(11)可滑动安装在第一弧形轨道上；和/或，还包括第二支架(52)，第二支架(52)上设有第二弧形轨道，第二明场线扫相机(12)可滑动安装在第二弧形轨道上；和/或，还包括第三支架(53)，第三支架(53)上设有第三弧形轨道，暗场线扫相机(13)可滑动安装在第三弧形轨道上。3.根据权利要求1或2所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，还包括第四支架(54)，第四支架(54)上设有第四弧形轨道，第一明场线形光源(31)可滑动安装在第四弧形轨道上；和/或，还包括第五支架(55)，第五支架(55)上设有第五弧形轨道，第二明场线形光源(32)可滑动安装在第五弧形轨道上；和/或，还包括第六支架(56)，第六支架(56)上设有第六弧形轨道，暗场线形光源(33)可滑动安装在第六弧形轨道上。4.根据权利要求1所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，第一明场线形光源(31)和暗场线形光源(33)位于第一明场线扫相机(11)和暗场线扫相机(13)之间。5.根据权利要求1所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，暗场线形光源(33)的最大照度大于第一明场线形光源(31)和第二明场线形光源(32)的最大照度。6.根据权利要求1所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，传送辊(4)表面具有黑色哑光传送面。7.根据权利要求1所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置，其特征在于，传送辊(4)表面具有多个环形支撑凸起(41)，多个环形支撑凸起(41)沿传送辊(4)长度方向依次间隔分布。8.一种用于TFT‑LCD外观检测的光学检测系统，其特征在于，包括：根据权利要求1‑7任一项所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学成像装置。9.根据权利要求8所述的用于TFT‑LCD外观检测的光学检测系统，其特征在于，还包括2CN115825094A权利要求书2/2页第一工控机、第二工控机和第三工控机，第一工控机与第一明场线扫相机(11)连接用于处理第一明场线扫相机(11)获取的图像，第二工控机与第二明场线扫相机(12)连接用于处理第二明场线扫相机(1