一种光耦合器件的检测装置及方法.pdf

本发明涉及一种光耦合器件检测装置及方法,光耦合器件的检测装置包括光耦合器、第一透镜、第二透镜、光束质量分析仪以及处理单元;光耦合器用于产生测试光,第一透镜用于对测试光进行准直,第二透镜用于对经过准直后的测试光进行收束;光束质量分析仪用于获取收束后的测试光在不同光路位置处的远场光分布图,并发送至处理单元;处理单元用于对多张不同光路位置处的远场光分布图进行计算,得到测试光在远场传播中的角功率变化率。利用角功率变化率对光耦合器件中发生的模式转换过程进行定量评估,无需分析内部切面,从而为光耦合器件的光束整形能力提供一个定量评估标准,也为光耦合器件输出模式的控制提供了更多参考信息。