功率半导体器件封装结构和功率半导体器件模块.pdf
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功率半导体器件封装结构和功率半导体器件模块.pdf
本发明提供一种功率半导体器件封装结构和功率半导体器件模块,功率半导体器件封装结构包括:下导电散热板,所述下导电散热板的一侧的部分表面具有沉槽;功率芯片,位于所述沉槽中,所述功率芯片与所述下导电散热板电连接。所述功率半导体器件封装结构的散热效果好、功率密度大且寄生电感低。
功率半导体器件的终端结构及功率半导体器件.pdf
本发明提供了一种功率半导体器件的终端结构及功率半导体器件。该功率半导体器件的终端结构包括位于功率半导体器件主体半导体区中的沟道环,所述沟道环的材料为相对介电常数为1~15之间的本征多晶材料。本发明的功率半导体器件的终端结构中沟道环采用相对介电常数在15以内的本征多晶材料,使通过该沟道环区域内的电场线接近水平、并且在该区域内无极值点,可以很好地降低载流子的滞留量,从而提高击穿电压。
芯片电极引出结构及其封装结构、功率半导体器件模块.pdf
本发明公开了芯片电极引出结构及其封装结构、功率半导体器件模块,芯片电极引出结构包括:第一源极模块的第一侧面、第二源极模块的第一侧面、栅极模块的第一侧面、功率芯片的漏极均固定至漏极金属板的第一侧面上;第一源极模块的第二侧面与功率芯片的源极连接并引出,将引出的电极作为开尔文源极;第二源极模块的第二侧面与功率芯片的源极连接并引出,将引出的电极作为功率回路源极;栅极模块的第二侧面与功率芯片的栅极连接并引出。本发明实施例将功率芯片的三个电极引出,从而在后续的压接式封装中,在功率芯片不直接承受压力的同时,实现了压接式
功率半导体器件和生产功率半导体器件的方法.pdf
公开了功率半导体器件和生产功率半导体器件的方法。功率半导体器件的每个功率单元被配置为传导负载电流部分。每个功率单元包括:(i)多个沟槽;以及(ii)多个台面,多个台面由沟槽在横向上界定并且邻接功率半导体器件的漂移区。多个台面包括有具有第一导电类型的源极区和将源极区与漂移区分离的第二导电类型的本体区的源台面:以及(iii)被通过至少一个分离堆叠与有源台面电分离的穿通PT结构,其具有:第一导电类型的第一区,其被布置在第一结和第二结之间;第二导电类型的第二区,其被布置在第二结和有源台面之间;第一结是第一区和第二
功率半导体器件封装结构及其制备方法.pdf
本发明涉及功率半导体技术领域,提出一种功率半导体器件封装结构及其制备方法,其中功率半导体器件封装结构包括:引线框架,支承在所述引线框架上的半导体芯片,支承在所述半导体芯片上的应力缓冲层,支承在所述应力缓冲层上的金属互联结构,以及将所述引线框架、所述半导体芯片、所述应力缓冲层和所述金属互联结构封装固定的塑封体;所述金属互联结构远离所述应力缓冲层的表面与所述塑封体的一个表面位于同一水平面上,并且该表面设有第一散热区;所述引线框架远离所述半导体芯片的表面与所述塑封体的另一个表面位于同一水平面上,并且该表面设有第