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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115900828A(43)申请公布日2023.04.04(21)申请号202211628949.7G01D11/30(2006.01)(22)申请日2022.12.19(71)申请人中国工程物理研究院材料研究所地址621700四川省绵阳市江油市华丰新村9号(72)发明人江奕东法涛尹安毅苏斌尹希希张冬旭羊宇佳陆雷黄煌(74)专利代理机构北京高沃律师事务所11569专利代理师李胜强(51)Int.Cl.G01D21/02(2006.01)B25J9/04(2006.01)B25J9/16(2006.01)B25J11/00(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图4页(54)发明名称一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统(57)摘要本发明公开一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统,涉及工件表面精细检测技术领域,包括以下内容:移动机械手,避免与回转体构件空间干涉,使检测探头与盛放座轴线重合;将回转体构件放置在盛放座上并与其轴线重合;上下移动机械手至检测探头的焦平面与回转体构件的轴线上的最高或最低点重合,微调回转体构件并确保其与盛放座、检测探头的轴线三轴合一,计算回转体构件的坐标零点;输入拟检测位点并规划移动路径,进行表面状态检测;确认检测信息满足检测要求并对数据进行处理。本发明通过利用机械手夹持检测探头,并且在检测时,通过调整检测探头的焦平面与检测位点切面重合,实现回转体构件表面精准定位与表面状态的精细检测。CN115900828ACN115900828A权利要求书1/2页1.一种回转体构件表面状态精细检测方法,其特征在于,包括以下内容:将检测探头安装在机械手上,移动所述机械手,使所述检测探头的轴线与盛放座的轴线重合,此时所述机械手的空间位置坐标及姿态设置为零时点,在零时点避免与回转体构件存在空间干涉;将回转体构件放置在所述盛放座上,并确保所述回转体构件的轴线与所述盛放座的轴线重合;上下移动所述机械手,至所述检测探头的焦平面与所述回转体构件的轴线上的最高或最低点重合,依据检测参数微调所述回转体构件的位置,确保所述回转体构件、所述盛放座、所述检测探头的轴线三轴合一,将重合点设为特征点,并根据所述回转体构件特性计算所述回转体构件的基准点相对于机械手坐标系的空间位置坐标,并将所述基准点设置为所述回转体构件的坐标零点;输入拟检测位点并规划移动路径,对所述回转体构件进行表面状态检测;确认获得的检测信息满足检测要求,并对数据进行处理。2.根据权利要求1所述的回转体构件表面状态精细检测方法,其特征在于:在完成一项表面状态检测后,更换检测探头执行下一项表面状态检测,每次更换检测探头后,根据检测探头及其夹具尺寸计算坐标零点。3.根据权利要求2所述的回转体构件表面状态精细检测方法,其特征在于:表面状态检测包括表面形貌检测,检测探头采用体视显微镜,选择放大倍率20~500X,将所述体视显微镜的镜头靠近所述回转体构件的表面进行检测,进行拍摄并保存。4.根据权利要求2所述的回转体构件表面状态精细检测方法,其特征在于:表面状态检测包括氧化膜厚度检测,检测探头采用光谱探头,将所述光谱探头对准所述回转体构件表面,调整所述光谱探头与所述回转体构件距离在1~5mm之间,观察软件中原始光谱强度的变化,当光谱强度达到最强时,获得反射光谱,获得明显干涉峰。5.根据权利要求3或4所述的回转体构件表面状态精细检测方法,其特征在于:利用转动驱动机构驱动所述盛放座转动,所述盛放座带动所述回转体构件沿所述回转体构件的中心轴旋转,所述机械手带动检测探头的运动路径限制在所述中心轴所在的平面内。6.一种回转体构件表面状态精细检测系统,其特征在于:包括承载平台以及设置在所述承载平台上的盛放座和机械手,所述盛放座用于放置回转体构件,且所述盛放座连接有转动驱动机构,所述转动驱动机构用于带动所述回转体构件沿所述回转体构件的中心轴旋转,所述机械手通过夹具夹持有用于对所述回转体构件进行表面状态检测的检测探头。7.根据权利要求6所述的回转体构件表面状态精细检测系统,其特征在于:所述盛放座包括放置板和若干夹持组件,所述放置板中部设置有定位孔,所述夹持组件包括以所述定位孔为圆心沿辐向设置的导轨、滑动设置在所述导轨上的夹持爪以及驱动所述夹持爪移动的直线驱动机构。8.根据权利要求7所述的回转体构件表面状态精细检测系统,其特征在于:所述夹持爪包括滑动设置在所述导轨上的滑块,所述滑块上顺次首尾铰接有第一连杆和第二连杆,所述第二连杆的自由端设置有用于抵接所述回转体构件的楔形支撑块,所述第一连杆与所述滑块铰接的一端设置有第一转动限位部,所述第二连杆与所述第一连杆铰接的一端设置有第二转动限位部,所述第一转动限位部以及所述第二转动限位部均位于靠近