检查设备、检查方法和检查系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115931930A(43)申请公布日2023.04.07(21)申请号202211738854.0(22)申请日2022.12.30(71)申请人清华大学地址100084北京市海淀区清华园1号申请人同方威视技术股份有限公司(72)发明人陈志强张丽李元景黄清萍冯博张立国李桂培洪明志(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任公司11021专利代理师胡良均(51)Int.Cl.G01N23/10(2018.01)G01N23/046(2018.01)G01N23/207(2018.01)权利要求书2页说明书7页附图2页(54)发明名称检查设备、检查方法和检查系统(57)摘要本发明提供了一种检查设备及其检查方法、检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。检查设备包括直线形轨道，沿横向跨检查通道。衍射检测装置能够沿直线形轨道移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。CN115931930ACN115931930A权利要求书1/2页1.一种检查设备，包括：支架；透射成像装置，被所述支架支撑并且配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，被所述支架支撑，其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道被移动以便被透射成像装置扫描；衍射检测装置包括衍射辐射检测器，所述衍射辐射检测器配置成能够在所述支架上沿检查通道的横向移动至特定位置接收经被检查对象的至少一部分衍射的辐射以便检测其特性。2.根据权利要求1所述的检查设备，其中所述检查设备包括沿直线延伸的轨道，设置在所述支架上并且配置成沿所述检查通道的延伸方向的横向跨过所述检查通道，其中，所述衍射辐射检测器被所述轨道支撑并且能够沿所述轨道移动以便在特定位置接收并检测经衍射的辐射。3.根据权利要求2所述的检查设备，其中所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括共同的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射；或所述衍射检测装置和所述透射成像装置包括各自的辐射源，配置成朝向被检查对象照射辐射。4.根据权利要求3所述的检查设备，其中基于所述透射图像确定被检查对象包含嫌疑物以及嫌疑物在被检查对象上的位置，并且基于嫌疑物的位置，所述衍射辐射检测器被移动至所述特定位置以便接收经所述嫌疑物衍射的辐射以便确定所述嫌疑物部分的特性。5.根据权利要求4所述的检查设备，其中所述特定位置大体位于所述辐射源和所述嫌疑物的连接线的延长线上。6.根据权利要求2所述的检查设备，其中所述轨道包括直线导轨，所述衍射辐射检测器包括探测器平移支架，所述衍射辐射检测器通过所述探测器平移支架在所述直线导轨上移动。7.根据权利要求6所述的检查设备，还包括编码电机和丝杠，配置成由所述编码电机旋转所述丝杆，以便丝杆驱动所述探测器平移支架沿所述直线导轨移动。8.根据权利要求7所述的检查设备，其中所述衍射辐射检测器包括安装在所述探测器平移支架上的枢转轴，和安装在所述枢转轴上通过所述枢转轴支撑的探测器座，所述探测器座配置成通过所述枢转轴的旋转能够相对于所述探测器平移支架转动，从而调节所述衍射辐射检测器的位姿。9.根据权利要求8所述的检查设备，其中所述衍射辐射检测器包括安装在所述探测器平移支架上的调节电机，所述枢转轴包括调节件，所述调节电机与所述调节件接合以便通过所述调节件驱动所述枢转轴转动预定角度。10.根据权利要求9所述的检查设备，其中所述调节电机配置有驱动齿轮，所述调节件配置为与所述驱动齿轮啮合。11.根据权利要求8所述的检查设备，其中所述探测器座通过枢转轴被旋转，使得衍射2CN115931930A权利要求书2/2页辐射检测器的衍射辐射接收面朝向与辐射源接收经衍射的辐射。12.根据权利要求2所述的检查设备，其中所述透射成像装置包括透射辐射检测器，配置成接收透射通过被检查对象的辐射以便能够构建被检查对象的透射图像，所述透射辐射检测器包括多个检测单元，所述多个检测单元沿两排布置，并且每一排上的检测单元相互间隔开，并且两排的检测单元相对于辐射的投射方向构成连续的接收面。13.根据权利要求12所述的检查设备，其中位于两排的相邻的检测单元相对于辐射的投射方向具有重叠。14.根据权利要求12所述的检查设备，其中所述透射辐射检测器沿直线布置。15.一种使用根据权利要求1‑14中任一项所述的检查设备的检查方法，包括：使用所述辐射源照射被检查对象；通过所述透射辐射检测器检测透射通过被检查对象的透射辐射构建被检查对象的透射图像；识别透射图像中与嫌疑物对应的嫌疑物图像部分；基于嫌疑物图像部分在透射图像中的位置，确定嫌疑物在被检查对象的位置；以及基于嫌疑物在被检查对象的位置，将衍射检测装置移