一种芯粒外观检测及分区一体机及其检测方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115921319A(43)申请公布日2023.04.07(21)申请号202211314485.2(22)申请日2022.10.26(71)申请人埃美特（厦门）科技有限公司地址361000福建省厦门市火炬高新区创新路2号兴联大厦N211-2(72)发明人张志伟常华东(51)Int.Cl.B07C5/02(2006.01)B07C5/34(2006.01)B07C5/36(2006.01)B07C5/38(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图6页(54)发明名称一种芯粒外观检测及分区一体机及其检测方法(57)摘要本发明公开了一种芯粒外观检测及分区一体机，包括机架，所述机架上设有工作台，所述工作台上方设有抓料机构，所述工作台顶面从一端到另外一端依次设有：多层放料机构，所述多层放料机构包括若干个上下相邻的放料盒；第一检测机构，所述第一检测机构包括第一摄像头，对离型纸上芯粒灰尘拍摄检测；第二检测机构，所述第二检测机构包括第二摄像头，对离型纸外表面全面拍摄检测；不良品区，所述不良品区包括若干不良品放置盒；多层储料机构，所述多层储料机构包括若干个上下相邻的储料盒；其中，所述抓料机构将放料盒内的离型纸依次输送至第一检测机构和第二检测机构进行检测，再将检测得到的优良品输送至储料盒内，不良品输送至不良品放置盒内。CN115921319ACN115921319A权利要求书1/2页1.一种芯粒外观检测及分区一体机，包括机架（1），所述机架（1）上设有工作台（2），其特征在于：所述工作台（2）上方设有抓料机构，所述工作台（2）顶面从一端到另外一端依次设有：多层放料机构（3），所述多层放料机构（3）包括若干个上下相邻的放料盒（304）；第一检测机构（4），所述第一检测机构（4）包括第一摄像头（402），对离型纸上芯粒灰尘拍摄检测；第二检测机构（5），所述第二检测机构（5）包括第二摄像头（502），对离型纸外表面全面拍摄检测；不良品区，所述不良品区包括若干不良品放置盒（8）；多层储料机构（6），所述多层储料机构（6）包括若干个上下相邻的储料盒（604）；其中，所述抓料机构将放料盒（304）内的离型纸依次输送至第一检测机构（4）和第二检测机构（5）进行检测，再将检测得到的优良品输送至储料盒（604）内，不良品输送至不良品放置盒（8）内。2.根据权利要求1所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述抓料机构包括第一支撑架（701）、第二支撑架（702）、第一吸料盘（901）和第二吸料盘（902），所述第一支撑架（701）和第二支撑架（702）下方均设有分别设有第一吸料盘（901）和第二吸料盘（902），所述第一吸料盘（901）和第二吸料盘（902）均通过升降组件和平移组件在工作台（2）上方空间内移动。3.根据权利要求2所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述多层放料机构（3）包括第一升降机构（301），所述第一升降机构（301）连接放料架（302），所述放料架（302）上设有若干第一滑轨（303），所述第一滑轨（303）上滑动设有放料盒（304）。4.根据权利要求3所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述第一检测机构（4）包括第一固定架（401），所述第一固定架（401）一侧设有第一摄像头（402），所述第一摄像头（402）正下方设有平面移动机构（403），所述平面移动机构（403）固定连接第一检测台（404）。5.根据权利要求4所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述第二检测机构（5）包括第二固定架（501），所述第二固定架（501）一侧设有第二摄像头（502），所述第二摄像头（502）正下方设有第二检测台（503），所述第一支撑架（701）上的第一吸料盘（901）将第一检测台（404）上的离型纸输送至第二检测台（503）上。6.根据权利要求5所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述多层储料机构（6）包括第二升降机构（601），所述第二升降机构（601）连接储料架（602），所述储料架（602）上设有若干第二滑轨（603），所述第二滑轨（603）上滑动设有储料盒（604）。7.根据权利要求6所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述机架（1）上设有控制器，所述控制器信号连接抓料机构，所述第二支撑架（702）上的第二吸料盘（902）将第二检测台（503）上检测的优良品输送至储料盒（604）上，不良品输送至不良品放置盒（8）上。8.根据权利要求4所述的一种芯粒外观检测及分区一体机，其特征在于：所述第一检测机构（4）包括吹气组件（405），所述第一固定架（401）一侧设有固定杆，所述固定杆上转动设有吹气组件（405），所述吹