漏磁检查装置及缺陷检查方法.pdf
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漏磁检查装置及缺陷检查方法.pdf
提供一种即使在磁轭的开口部宽的情况下,也不用设置产生强力的磁力的附加的单元,能够实现与磁轭的开口部对应的检查部分的磁通的均匀化的漏磁检查装置及使用了该漏磁检查装置的缺陷检查方法。漏磁检查装置(1)具备:励磁器(2),具有磁轭(4)和磁产生单元(5),所述磁轭(4)在与检查对象物(10)相对的部分具有形成磁极的一对腿部(4a),并且在一对腿部(4a)之间具有开口部(8),所述磁产生单元(5)产生直流磁场并将磁轭(4)磁化;及磁检测器(3),配置在磁轭(4)的开口部(8)。磁轭(4)的开口部(8)的间隔L处于
漏磁检查装置及缺陷检查方法.pdf
提供一种能够实现励磁器的小型化及轻量化,不会产生发热引起的能量损失,且能够容易地切断励磁,并且不使用过度的能量而能够维持该状态的漏磁检查装置及缺陷检查方法。漏磁检查装置(1)具备:呈门型的主励磁器(2),在与检查对象物相对的部分具有开口(2a),具有一个或两个以上的第一永久磁铁(3);磁检测器(4),配置于主励磁器(2)的开口(2a);副励磁器(5),以夹着主励磁器(2)的一个或两个以上的第一永久磁铁(3)的方式连接于主励磁器(2),具有将主励磁器(2)在与第一永久磁铁(3)相同的方向上磁化的第二永久磁铁
漏磁检查装置及缺陷检查方法.pdf
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缺陷检查方法及缺陷检查装置.pdf
提供缺陷检查方法及缺陷检查装置,在以在直线偏振板层叠有防护膜和剥离膜的光学膜为被检物的情况下,能检出直线偏振板光学特性不均。缺陷检查方法是以具有直线偏振板的光学膜为被检物的该直线偏振板的缺陷检查方法,该光学膜依次具有剥离膜、该直线偏振板和防护膜,该防护膜具有取向轴,且被层叠为使该取向轴与该直线偏振板的吸收轴所成角度为0°±30°的范围,该缺陷检查方法具有配置工序,沿光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、相位差补偿板、该光学膜以及具有第2偏振片的第2滤光片,且将该光学膜以使该剥离膜侧的表面与该相位差补偿板
缺陷检查方法及缺陷检查装置.pdf
本发明提供一种能够检测出光学特性的不均的缺陷检查方法。所述缺陷检查方法具有:配置工序,依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置第1滤光片、光学膜、第2滤光片:(a1)所述第1滤光片的第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90°±5°的范围内,(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2滤光片的第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90°±35°的范围内;检测工序,检测从光源照射、并依次透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光;以及判断工序,基于所述检测工序中的检测结果,判断所述