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本发明公开了一种光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法,属于玻璃基板技术领域。其技术方案为:包括以下步骤:1)将光学玻璃基板放置在玻璃支架上;2)打开光源调整亮度,光透过光学玻璃基板投射至白色背景上;3)对投射到白色背景上的图像进行分析,判断出光学玻璃基板上是否存在研磨不均的缺陷。本发明有效解决了光学玻璃基板磨削不均无法有效检测的问题,在不损害光学玻璃基板产品表面质量的状况下,快速完成缺陷检测判定。