硅晶片的缺陷检查方法及硅晶片的缺陷检查系统.pdf
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硅晶片的缺陷检查方法及硅晶片的缺陷检查系统.pdf
侧视中,入射光的光轴对硅晶片表面(或假想平面)形成的角度θ1是67~78°,并且假设光检测器的检测光轴对硅晶片表面(或假想平面)形成的角度是θ2时,θ1?θ2是?6~?1°或1~6°。
硅晶片的缺陷检查方法及硅晶片的缺陷检查系统.pdf
侧视中,入射光的光轴对硅晶片表面(或假想平面)形成的角度θ1是67~78°,并且假设光检测器的检测光轴对硅晶片表面(或假想平面)形成的角度是θ2时,θ1?θ2是?6~?1°或1~6°。
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