图像传感器芯片手动测试插座.pdf
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图像传感器芯片手动测试插座.pdf
本实用新型属于芯片制作应用技术领域,具体公开了图像传感器芯片手动测试插座,包括激光发射器、衰减片、云母片、压块和弹簧探针测试插座;所述激光发射器、衰减片云母片、压块、弹簧探针测试插座从上至下依次层状堆叠设置,其中,待测芯片放置在弹簧探针测试插座一面内。本实用新型的图像传感器芯片手动测试插座的有益效果在于:(1)其设计合理,搭建激光器测试环境,把多种物料集成到夹具内,模拟图像传感器芯片的工作环境,实现图像传感器芯片的测试;(2)选用弹簧探针接触待测产品,确保接触稳定性。
芯片插座、测试夹具及其芯片测试方法.pdf
本申请公开一种芯片插座、一种测试夹具及其芯片测试方法。该芯片插座包括一基座、多个导电线、多个夹钳结构和多个电触点。多个导电线形成在该基座中。多个夹钳结构具有导电性,并设置在该基座的一第一表面上,该多个夹钳结构中的至少一个与相应的导电线相耦合,并经配置以钳制一待测芯片的一钖球。该多个电触点设置在该基座的一第二表面上,该多个电触点中的至少一个通过相应的导电线与相应的夹钳结构相耦合。
基于ATE的高端图像传感器芯片测试技术.docx
基于ATE的高端图像传感器芯片测试技术基于ATE的高端图像传感器芯片测试技术摘要:随着科技的发展,高端图像传感器芯片在各个领域的应用越来越广泛。为了保证芯片的质量和性能,必须对图像传感器芯片进行严格的测试。本文主要介绍了一种基于自动测试设备(ATE)的高端图像传感器芯片的测试技术。首先介绍了高端图像传感器芯片的基本原理和特点,然后详细介绍了基于ATE的芯片测试流程和测试方法。最后,通过实验验证了该测试技术的可行性和有效性。关键词:高端图像传感器芯片、测试技术、ATE、测试流程、测试方法引言:高端图像传感器
温度测量芯片多工位测试插座.pdf
本实用新型属于芯片制作应用技术领域,具体公开了温度测量芯片多工位测试插座,包括芯片定位框、测试金属框架、探针安装主板、探针盖板、测试基板;所述芯片定位框、测试金属框架、探针安装主板、探针盖板、测试基板从上至下依次堆叠设置;所述测试金属框架内设置两组限位腔,探针安装主板一面设置有两组探针垫板。本实用新型的温度测量芯片多工位测试插座的有益效果在于:(1)其设计合理,实现多工位并行测试,效率快,可以同时一次性测试64颗芯片;2、采用浮动底板设计,确保接触稳定性,保证芯片和探针接触稳定,多工位按压一致性;3、待测
用于测试半导体集成电路芯片的液冷测试插座.pdf
一种IC芯片的测试插座,其包含定位於邻近负载板的保持器,该保持器限定复数个对应於负载板上的触点焊盘的孔;多个触点,所述多个触点设置在所述多个孔中,所述多个触点被配置成将所述IC芯片电耦合到所述触点焊盘;壳体,其至少部分地限定与入口和出口流体连通的腔室。壳体包括主体结构和引导结构,主体结构限定与多个孔相对应的多个腔并且被配置为在其中接收多个触点,引导结构被配置为接收IC芯片并且当与多个触点接合时将IC芯片定位在腔室中。该腔室被配置为经由入口接收流体冷却剂,以将多个触点至少部分地浸没在流体冷却剂中。