用于零件装配的孔对中检测方法、装置及存储介质.pdf
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相关资料
用于零件装配的孔对中检测方法、装置及存储介质.pdf
本发明公开用于零件装配的孔对中检测方法、装置及存储介质,该检测方法包括如下步骤对接收到的数据信息进行高斯滤波处理后得到椭圆图像,根据椭圆图像构建图像坐标系下的椭圆方程,并根据得到的椭圆方程进行坐标变换得到第一标准圆方程;对接收的数据信息进行高斯滤波处理后得到不规则图像曲线,选取不规则图像曲线上五个点构建图像坐标系下的椭圆方程,并根据得到的椭圆方程进行坐标变换得到第二标准圆方程。通过第一标准圆方程的圆心和第二标准圆方程的圆心之间的连线长度得到第一待装件和第二待装件的对中度。本发明适于狭小空间对中检测,对中操
零件装配方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开实施例提供了一种零件装配方法、装置、电子设备及存储介质。该方法,包括:获取每个待装配零件的三维点云数据,并分别确定每个待装配零件的零件标识特征;根据每个待装配零件的三维点云数据、零件标识特征以及预先训练完成的位姿转换模型,确定与每个待装配零件对应的位姿转换关系;其中,位姿转换模型基于样本装配体包含的样本零件和与样本零件对应的期望的位姿转换关系训练得到。在确定位姿转换关系后,可以根据每个待装配零件对应的位姿转换关系对至少两个待装配零件进行装配,得到目标装配体。本公开实施例的技术方案,能够更加准确地实现
零件装配超差的分析方法、装置、设备以及存储介质.pdf
本发明公开一种零件装配超差的分析方法、装置、设备以及存储介质,用于电子设备,所述方法包括以下步骤:在目标装配体零件中确定出多个待测量点和多个所述待测量点的测量基准面;获取每个所述待测量点与所述基准面的最小距离;确定每个所述最小距离与预设公差区间的比对结果;基于多个所述比对结果,获得多个所述待测量点的超差分析结果。本发明还公开一种零件装配超差的分析装置、电子设备以及计算机可读存储介质。利用本发明的方法,不需要人工手动来获取最小距离和数据抄录,大大降低了超差分析时长,提高了超差分析效率。
用于行人检测的方法、装置、系统及存储介质.pdf
本发明的实施例提供了一种用于行人检测的方法、装置、系统及存储介质。该方法包括:获取待检测图像;对所述待检测图像进行行人检测,以获得行人检测框,其中所述行人检测框用于指示所述待检测图像中可能包括行人的区域;在所述行人检测框中进行人头检测,以获得人头检测框,其中所述人头检测框用于指示所述行人检测框中可能包括人头的区域;以及根据所述人头检测框筛选所述行人检测框,并且将最终筛选结果作为行人检测结果。本发明能降低现有技术的行人检测中的漏检,提高检测准确率。
用于晶圆的检测方法、检测装置及存储介质.pdf
本申请的实施方式提供了一种晶圆的检测方法、检测装置及存储介质。本申请的部分实施方式中,用于晶圆的检测方法包括:确定晶圆的侧面图像的像素的图像特征值;对侧面图像的像素的图像特征值进行统计;以及根据统计结果确定晶圆的轮廓是否异常。本申请提供的晶圆的检测方法、检测装置及存储介质可对晶圆进行异常检测。