一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法的开题报告.docx

一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法的开题报告题目：一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法背景与意义：现代电路设计要求高集成度、低功耗、高性能和高可靠性。然而，随着电路规模不断增大，传统的测试方法逐渐不能满足要求。为了提高电路测试效率和可靠性，需要采用更高效的测试方法和设计技术。扫描测试技术是目前最常用的电路测试方法之一，它可以有效地检测电路中的故障。扫描测试技术可以使电路中的所有寄存器或触发器都形成一个扫描链，通过在扫描链上注入测试向量来测试电路。扫描测试技术的主要问题是要增加电路的面积、功耗和测试时间。针对这些问题，近年来有很多相关的研究，其中一种解决方法是采用扫描阵列的设计方案。扫描阵列可以将扫描链平分成多个部分，同时可以使测试的结果更容易解释和统计。此外，扫描阵列设计能够有效地减少测试时间和功耗。因此，本文将重点研究一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法，通过对扫描阵列的设计优化，实现更快的测试速度和更低的功耗。研究内容：本文的研究内容主要包括以下方面：1.扫描阵列的设计理论和方法分析2.扫描阵列在电路测试中的性能分析和评价3.基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法的探索和实现4.设计方法的可行性验证和实验结果分析预期成果：经过本研究，预期实现以下成果：1.对扫描阵列设计理论和方法进行深入的分析和探讨，对扫描阵列在电路测试中的应用和效果进行综合评估和分析。2.提出一种基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法，有效地解决传统测试方法中存在的瓶颈问题，提高电路测试效率和可靠性。3.实现设计方法，并对其可行性进行验证，并通过实验结果进行评估和分析。参考文献：[1]霍尧辉,赵殿龙.基于扫描阵列的快速低功耗可测试性设计方法[J].中国测试,2018(11):22-24.[2]赵晋毅,李贤明.基于混合扫描链的测试序列优化方法研究[J].微电子学与计算机,2017,34(10):36-38.[3]戴博,朱聪聪,陆敏,(等.).基于逆序列的优化测试序列生成算法[J].微电子学与计算机,2016,33(8):144-149.