一种磁盘减振器减振效果测试方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109115436A(43)申请公布日2019.01.01(21)申请号201810739393.6(22)申请日2018.07.06(71)申请人郑州天迈科技股份有限公司地址450001河南省郑州市高新区莲花街316号10号楼106-606房、108-608号房(72)发明人郭建国张鑫肖萌萌任海波(74)专利代理机构郑州德勤知识产权代理有限公司41128代理人黄红梅黄军委(51)Int.Cl.G01M7/02(2006.01)权利要求书1页说明书3页(54)发明名称一种磁盘减振器减振效果测试方法(57)摘要本发明提供一种磁盘减振器减振效果测试方法，将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果。本发明通过对不同振动测试条件下的IO的访问速率进行数据分析，获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果，从而改进不同条件下的硬盘的减振结构，在不同的地理区域，使用不同的减振结构。CN109115436ACN109115436A权利要求书1/1页1.一种磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果。2.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：所述设置振动测试条件包括加速度设置，1G/2G/2.5G/3G；频率设置，5Hz-200Hz；方向设置，X/Y/Z；IO访问区域，访问同一柱面的数据，访问的区域和大小相同；温度，低温/常温/高温。3.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：所述不同I/O访问时间设置为小于5ms、小于10ms、小于50ms、小于150ms、小于500ms和访问失败。4.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：所述使用软件采用的是MHDD软件。5.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于，所述硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果的判断规则包括：（1）同一振动条件内，不同访问时间对比：访问时间少的块数量多，判断为减振效果好；否则，判断为减振效果差；（2）不同振动条件，相同访问时间对比：访问块数多，判断为在此条件的的减振效果好；否则，判断为减振效果差。2CN109115436A说明书1/3页一种磁盘减振器减振效果测试方法技术领域[0001]本发明涉及一种测试方法，具体的说，涉及了一种磁盘减振器减振效果测试方法。背景技术[0002]对于车载机的减振效果测试，一般的检测方法是：把车载机按振动标准，放置在振动平台上：（1）传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，通过传感器采集各个振动频率的过程数据，分析两组数据来确定减振的效果；（2）在结束振动时，通过检查存储的数据是否连续或丢失；通过采用这样的方式确认设计的减振是否有效。但是，目前的检测方法存在有如下缺陷：（1）通过采集的数据和检查的存储数据，来确定减振效果，是一个宏观上的结果；（2）使用的硬盘，随着硬盘的工作时长的增加，同时振动所产生的后果，是有累积效应；（3）无法确认硬盘在各个振动频率下的IO访问状态。[0003]因此，提供一种新的检测方法是人们一直在致力研究的课题。发明内容[0004]本发明的目的是针对现有技术的不足，从而提供了一种易于实现、测试效果明显的磁盘减振器减振效果测试方法。[0005]为了实现上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种磁盘减振器减振效果测试方法，将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果。[0006]基于上述，所述设置振动测试条件包括加速度设置，1G/2G/2.5G/3G；频率设置，5Hz-200Hz；方向设置，X/Y/Z；IO访问区域，