一种表面大凸点晶圆临时键合方法.pdf
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一种表面大凸点晶圆临时键合方法.pdf
本发明公开了一种表面大凸点晶圆临时键合方法,具体处理包括101)制作凹槽步骤和102)键合步骤;本发明提供能大大增加临时键合工艺的适用性的一种表面大凸点晶圆临时键合方法。
晶圆键合方法及晶圆键合结构.pdf
本发明公开了一种晶圆键合方法及晶圆键合结构,晶圆键合方法包括:提供第一晶圆,所述第一晶圆包括若干第一芯片单元,每个所述第一芯片单元包含若干第一焊垫;于所述第一焊垫上形成焊接凸起;提供第二晶圆,所述第二晶圆包括若干第二芯片单元,每个所述第二芯片单元包含若干第二焊垫;采用热压焊或超声焊技术将所述第一晶圆压合于所述第二晶圆上,所述焊接凸起与所述第二焊垫之间电性连接。本发明的晶圆键合方法以及晶圆键合结构,其能够提高集成度,且键合工艺简单,不会对晶圆造成损坏,降底了封装结构的尺寸以及封装成本。
一种晶圆键合方法及键合结构.pdf
本发明提供一种晶圆键合方法及晶圆键合结构,涉及半导体封装技术领域。方法包括:获取待键合的第一晶圆和第二晶圆;所述第一晶圆包括第一面;所述第二晶圆包括第二面;对所述第一晶圆的所述第一面涂覆键合胶形成键合面;在第一温度下的第一真空环境中对所述键合胶加热烘干;以预设间隔距离固定所述第一晶圆和所述第二晶圆,在第二真空环境中对所述键合胶加热至第二温度;在所述第二温度下将所述第一晶圆的所述键合面与所述第二晶圆的所述第二面相互接触,形成键合结构。该方法可以避免键合胶加热气化后部分组分形成的气体以气泡方式从胶内部溢出,进
一种晶圆键合方法.pdf
本发明公开了一种晶圆键合方法,所述晶圆键合方法通过在提供第一晶圆和第二晶圆的步骤之后,在将所述第一晶圆的正面和所述第二晶圆的正面相键合的步骤之前,增加一预处理工艺的步骤,所述预处理工艺可以减少(甚至去除)所述第一晶圆和/或所述第二晶圆的残留物,从而,在将所述第一晶圆的正面和所述第二晶圆的正面相键合的步骤中,能够改善(降低)晶圆键合空洞缺陷率,降低产品的整体缺陷率,提升产品性能。
一种晶圆键合方法.pdf
本发明公开了一种晶圆键合方法,所述晶圆键合方法通过在提供第一晶圆和第二晶圆之后,在所述第一晶圆的正面和所述第二晶圆的正面相键合的步骤之前,增加一预处理工艺的步骤,所述预处理工艺可以减少(甚至去除)所述第一晶圆的背面和/或所述第二晶圆的背面的残留物,可以改善所述第一晶圆的背面和/或所述第二晶圆的背面不平整的缺陷状况,从而,在将所述第一晶圆的正面和所述第二晶圆的正面相键合的步骤中,能够提升键合机台卡盘对晶圆(第一晶圆和/或第二晶圆)背面的真空吸附能力,便可有效改善(降低)晶圆键合扭曲度,较低的晶圆键合扭曲度有