光学距离计算装置和扩展可测量范围的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113267786A(43)申请公布日2021.08.17(21)申请号202110127337.9(22)申请日2021.01.29(30)优先权数据20154704.92020.01.30EP(71)申请人迈来芯科技有限公司地址比利时特森德洛(72)发明人A·奥特(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公司31100代理人何焜黄嵩泉(51)Int.Cl.G01S17/08(2006.01)G01S17/894(2020.01)权利要求书2页说明书17页附图11页(54)发明名称光学距离计算装置和扩展可测量范围的方法(57)摘要本申请公开了光学距离计算装置和扩展可测量范围的方法。装置包括光源，该光源发射选择性地在第一调制频率和第二调制频率处调制的射线。光子混合器单元生成并存储多个电输出信号，该多个电输出信号分别与根据间接飞行时间技术施加的相位偏移值相对应并且关于所选的调制频率。信号处理电路处理该第一调制频率处的第一数量的电输出信号以根据所计算的第一测量向量计算第一测量相位角，并且处理该第二调制频率处的第二数量的电输出信号以根据所计算的第二测量向量计算第二测量相位角。然后计算该第一测量相位角和第二测量相位角之间的相位角差，并将校正值施加到相位角差以产生用于计算距离的扩展范围相位角。CN113267786ACN113267786A权利要求书1/2页1.一种光学距离计算装置，所述装置包括：光源，所述光源被配置为根据间接飞行时间测量技术发射射线，所述光源被配置为根据预定频率选择方案选择性地在第一调制频率和第二调制频率处调制所述射线；光子混合器单元，所述光子混合器单元被配置为生成并存储多个电输出信号，所述多个电输出信号分别与根据所述间接飞行时间测量技术施加的相位偏移值相对应并且关于所选的调制频率；以及信号处理电路，所述信号处理电路被配置为处理关于所述第一调制频率的第一数量的所述多个电输出信号，以便计算第一测量向量和根据所述第一测量向量计算第一测量相位角，并且处理关于所述第二调制频率的第二数量的所述多个电输出信号，以便计算第二测量向量和根据所述第二测量向量计算第二测量相位角；其中所述信号处理电路被配置为计算所述第一测量相位角和所述第二测量相位角之间的相位角差，并将校正值施加到所述相位角差以产生扩展范围相位角；并且所述信号处理电路被配置为使用所述扩展范围相位角来计算去混叠范围。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置为响应于与所述第一调制频率和所述第二调制频率相关联的各自的混叠参数的比较来施加所述校正值。3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置为将所述第一调制频率和所述第二调制频率进行比较。4.如权利要求2所述的装置，进一步包括：第一明确可测量范围，所述第一明确可测量范围与所述第一测量相位角相关联；以及第二明确可测量范围，所述第二明确可测量范围与所述第二测量相位角相关联；其中所述信号处理电路被配置为将所述第一明确可测量范围和所述第二明确可测量范围进行比较。5.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述校正值的计算取决于所述各自的混叠参数的所述比较的结果。6.如前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置为通过所述相位角差与相位角卷叠阈值的比较，来检测所述相位角差的卷叠。7.如权利要求1‑5中任一项所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置为将所述第一测量相位角量化为第一n位值并且将所述第二测量相位角量化为第二n位值，所述第一n位值和所述第二n位值在n位空间内，所述n位空间表示所述n位空间上在基本为0和基本为2π之间的角度范围；并且所述信号处理电路被配置为通过使用所量化的第一测量相位角和所量化的第二测量相位角执行减法运算来同时计算所述相位角差并且将所述校正值施加到所述相位角差。8.如权利要求7所述的装置，当从属于权利要求2时，其特征在于，所述信号处理电路被配置为取决于所述各自的混叠参数的所述比较的所述结果的值，选择所述第一测量相位角或所述第二测量相位角作为所述减法运算的被减数。9.如权利要求1‑5中任一项所述的装置，其特征在于，所述扩展范围相位角具有与所述扩展范围相位角相关联的明确扩展范围；并且所述信号处理电路被配置为通过使用所述扩展范围相位角对所述明确扩展范围进行缩放，来使用所述扩展范围相位角来计算距离。2CN113267786A权利要求书2/2页10.如权利要求1或权利要求2或权利要求3所述的装置，其特征在于，所述信号处理电路被配置为将具有与所述第一测量相位角相关联的第一明确可测量范围的所述第一测量相位角转换成具有与所述扩展范围相位角相关联的扩展明确可测量范围的细化扩展相位角。11.如权利要