光学检测方法和光学检测装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113702949A(43)申请公布日2021.11.26(21)申请号202110544565.6(22)申请日2021.05.19(30)优先权数据20176189.72020.05.22EP(71)申请人迈来芯科技有限公司地址比利时特森德洛(72)发明人H·范德布洛克(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公司31100代理人任曼怡黄嵩泉(51)Int.Cl.G01S7/495(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图6页(54)发明名称光学检测方法和光学检测装置(57)摘要在光学检测方法中，生成具有载波信号周期的载波信号，并在曝光时间段内生成代码序列。序列中的每个代码(406)包括多个码元(408、410、412、414、416)，这些码元之间具有定时延迟(418、420、422、424)。响应于代码序列(406)根据码元(408、410、412、414、416)的值来对载波信号进行移相。将经调制的载波信号应用于光源，由此对所发射的光进行调制。响应于接收到的反射光而生成电传感器信号。对经调制的载波信号应用多个预定的相位偏移值，并且通过根据间接飞行时间测量技术在曝光时间段内将所述得到的信号应用于电传感器信号来生成并存储多个电输出信号。每个码元(408、410、412、414、416)具有大于载波信号周期的持续时间。CN113702949ACN113702949A权利要求书1/2页1.一种光学检测方法，所述方法包括：发射连续波光；生成载波信号，所述载波信号具有与所述载波信号相关联的载波信号周期；在曝光时间段内生成代码序列，所述代码序列中的每个代码包括多个码元；响应于所述代码序列而对所述载波信号应用相移，以便生成经相位调制的载波信号；将所述经相位调制的载波信号应用到光源，以便根据所述经相位调制的载波信号来对所述连续波光进行调制；根据间接飞行时间测量技术发射经调制的连续波光；接收反射的经调制的连续波光；响应于所述反射的经调制的连续波光而生成电传感器信号；通过对所述经相位调制的载波信号应用多个预定的相位偏移值来生成混合信号；通过根据所述间接飞行时间测量技术并且针对所述曝光时间段将所述混合信号应用于所述电传感器信号，生成并存储多个电输出信号；其中每个码元具有大于所述载波信号周期的持续时间；对所述载波信号的相位调制包括根据所述多个码元中的码元的值而对所述载波信号的相位进行偏移；并且在所述多个码元中的每个码元之间提供定时延迟。2.如权利要求1所述的方法，其中，在所述多个码元中的每个码元之间提供的所述定时延迟是防护延迟，所述防护延迟被配置成用于使由所述多个码元中的码元之间的边界处的过渡导致的所述多个电输出信号的信噪比的降低最小化。3.如权利要求1或权利要求2所述的方法，其中，每个码元包括第一二进制值或第二二进制值，所述第一二进制值与第一预定相移值相对应，并且所述第二二进制值与第二相移值相对应。4.如权利要求1所述的方法，其中，所述代码序列包括对所述多个码元的出现进行重复。5.如权利要求1所述的方法，进一步包括：选择所述定时延迟的持续时间，以供后续在所述多个码元中的每个码元之间进行插入。6.如权利要求1所述的方法，进一步包括：采用模拟时间源来生成所述定时延迟。7.如权利要求1所述的方法，进一步包括：所述定时延迟的持续时间与所述每个码元的持续时间之间的定时比，所述定时比在1:2与1:50之间。8.如权利要求7所述的方法，进一步包括：通过修改所述载波信号周期由此修改所述每个码元的持续时间来优化所述定时比。9.如权利要求7所述的方法，进一步包括：通过修改所述代码序列中的所述每个代码的每代码码元数量由此修改所述每个码元的持续时间来优化所述定时比。10.如权利要求7所述的方法，进一步包括：2CN113702949A权利要求书2/2页通过修改所述曝光时间段的持续时间由此修改所述每个码元的持续时间来优化所述定时比。11.如权利要求1所述的方法，进一步包括：选择关于所述多个电输出信号的信噪比和/或关于所述多个电输出信号的干扰抑制；以及相对于载波频率周期的倍数选择所述每个码元的持续时间，以实现所选择的信噪比和/或干扰抑制；和/或选择所述定时延迟的持续时间，以实现所选择的信噪比和/或干扰抑制。12.如权利要求1所述的方法，进一步包括：根据所述间接飞行时间测量技术处理所述多个电输出信号，以便计算测量向量，并从所述测量向量计算所测量的相位角。13.一种确定到场景的特征的距离的方法，所述方法包括：如权利要求12所述的光学检测方法；以及使用所测量的相位角来计算距离。14.一种光学检测装置，包括：光源，所述光源被配置成用于发射连续波光；调制信号发生器，所述调制信号发生器被配置成用于生成