光学元件的研磨抛光装置及加工方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113953932A(43)申请公布日2022.01.21(21)申请号202111187147.2B25J11/00(2006.01)(22)申请日2021.10.12(71)申请人恒迈光学精密机械（杭州）有限公司地址311421浙江省杭州市富阳区春江街道江南路68号第23幢201室(72)发明人顾建勋施杨余鑫巍黄伟徐浩男(74)专利代理机构上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31317代理人张宁展(51)Int.Cl.B24B13/00(2006.01)B24B37/00(2012.01)B24B37/34(2012.01)B24B41/04(2006.01)权利要求书3页说明书6页附图2页(54)发明名称光学元件的研磨抛光装置及加工方法(57)摘要一种光学元件研磨抛光装置及加工方法，该研磨抛光装置自上而下包括驱动电机、支架、联轴器、中心转轴、回转机构、万向节、研磨抛光工具。本发明具有结构简单、安装灵活、操作方便的特点，在研磨抛光工具的提升和下降过程，研磨抛光工具始终接触光学元件表面，且研磨抛光工具轴始终垂直光学元件表面和保证转速负载精准传递，精准控制光学元件研磨抛光的材料去除量，实现研磨抛光的面形稳定，提高加工效率。CN113953932ACN113953932A权利要求书1/3页1.一种光学元件研磨抛光装置，其特征在于，包括驱动电机(1)、呈正方体中空框架的支架(2)、联轴器(3)、中心转轴(4)、回转机构(5)、限位套筒(8)、万向节(6)和研磨抛光工具(7)；所述的驱动电机(1)固定在所述的支架(2)的上部上表面，所述的联轴器(3)固定在所述的支架(2)的上部下表面，所述的回转机构(5)固定在所述的支架(2)的下部上表面，所述的驱动电机(1)的驱动轴穿过所述的支架(2)经所述的联轴器(3)与中心转轴(4)同轴连接，该中心转轴(4)下端通过所述的万向节(6)与所述的研磨抛光工具(7)同轴连接，所述的限位套筒(8)套装在所述的万向节(6)外，用以限制该万向节(6)的输入端和输出端的夹角。2.根据权利要求1所述的光学元件研磨抛光装置，其特征在于，所述的驱动电机(1)穿过支架(2)的内部通过联轴器(3)与中心转轴(4)同轴连接，同轴度≤0.02mm。3.根据权利要求1所述的光学元件研磨抛光装置，其特征在于，所述的所述的中心转轴(4)相对于所述的回转机构(5)的同轴度≤0.02mm。4.根据权利要求1‑3任一所述的光学元件研磨抛光装置，其特征在于，所述的回转机构(5)包括支撑套筒(51)、设置在该支撑套筒(51)内部的第一回转轴承(52)、支撑套环(53)和第二回转轴承(54)，以及设置在该支撑套筒(51)底部的端盖(55)；所述的中心转轴(4)依次穿过所述的第一回转轴承(52)、支撑套环(53)、第二回转轴承(54)和端盖(55)固定在所述的支撑套筒(51)上，所述的支撑套筒(51)用于限制内部第一回转轴承(52)、支撑套环(53)、第二回转轴承(54)的位置，且与所述的支架(2)固定连接，所述的第一回转轴承(52)和第二回转轴承(54)使所述的中心转轴(4)在中心位置固定旋转，且不与支架(2)干涉，所述的支撑套环(53)用于固定所述的第一回转轴承(52)的位置，所述的端盖(55)用于固定所述的第二回转轴承(54)位置，且固定在所述的支架(2)的下表面。5.根据权利要求1‑3任一所述的光学元件研磨抛光装置，其特征在于，所述的万向节(6)包括输入端套筒叉(61)、换向轴承(62)和输出端套筒叉(63)；所述的输入端套筒叉(61)呈倒U型，底部两侧对应开有孔位，所述的换向轴承(62)呈十字型，同向的两端分别穿过所述的输入端套筒叉(61)的孔位并固定，另一方向的两端分别穿过输出端套筒叉(63)的孔位并固定，从而使所述的输入端套筒叉(61)、换向轴承(62)和输出端套筒叉(63)活动连接；所述的中心转轴(4)的下端插入所述的输入端套筒叉(61)，所述的研磨抛光工具(7)的顶端轴插入所述的输出端套筒叉(63)，且所述的研磨抛光工具(7)的底端为直径大于顶端轴直径的圆盘。6.根据权利要求1‑5任一所述的光学元件研磨抛光装置，其特征在于，还包括运动机构(9)，当所述的运动机构(9)通过所述的驱动电机(1)带动所述的中心转轴(4)转动时，所述的万向节(6)确保所述的研磨抛光工具(7)底端始终与待加工光学元件(11)表面贴合，且研磨抛光工具(7)的轴线始终与所述的待加工光学元件(11)表面垂直；当所述的运动机构(9)通过所述的驱动电机(1)带动所述的中心转轴(4)提升或下降时，所述的万向节(6)确保所述的研磨抛光工具(7)始终跟随所述的中心转轴(4)运动，保