一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114669491A(43)申请公布日2022.06.28(21)申请号202210596685.5(22)申请日2022.05.30(71)申请人南通迈威智能科技有限公司地址226100江苏省南通市海门区海门街道人民西路969号(72)发明人胡伟忠(74)专利代理机构南通和策知识产权代理事务所(普通合伙)32608专利代理师翁斌(51)Int.Cl.B07C5/00(2006.01)B07C5/02(2006.01)B07C5/38(2006.01)G01R31/01(2020.01)G01R1/02(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图3页(54)发明名称一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置(57)摘要本发明提供一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置。该新型电子元器件检测用辅助筛选装置，包括支撑盘、进料道和出料道，所述支撑盘的下表面设置有传动带，所述支撑盘的表面设置有输送轨一，所述支撑盘的表面设置有输送轨二，该新型电子元器件检测用辅助筛选装置，通过档杆一与输送轨一和输送轨二的配合使用，可对电子元器件进行筛选分离输送，传动带的设计，可使进入到支撑盘中的电子元器件始终受到向前的推动力，转向盘和槽口与输送轨二和交接部的配合使用，可对电子元器件的位置方向进行转向调节，使电子元器件进入出料道时，位置方向保持统一，便于后续对电子元器件进行自动化检测。CN114669491ACN114669491A权利要求书1/1页1.一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，包括支撑盘（1）、进料道（2）和出料道（21），其特征在于：所述支撑盘（1）的下表面设置有传动带（11），所述支撑盘（1）的表面设置有输送轨一（4），所述支撑盘（1）的表面设置有输送轨二（41），所述输送轨一（4）靠近出料道（21）的一端设置有交接部（42），所述支撑盘（1）的表面转动连接有档杆一（5），所述支撑盘（1）的内部设置有转向机构（6），所述转向机构（6）包括驱动盘（61）、位于驱动盘（61）表面的凸块（611）、位于支撑盘（1）内部的转盘（62）、与转盘（62）同轴连接的转向盘（63）、位于转向盘（63）内部的槽口（631）和与转向盘（63）转动连接的固定盘（64）。2.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述进料道（2）和出料道（21）分别位于支撑盘（1）的两侧。3.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述输送轨一（4）、输送轨二（41）和交接部（42）的下侧与传动带（11）的表面相通。4.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述输送轨一（4）和输送轨二（41）均与进料道（2）的内部相通，交接部（42）采用Y形道设计，同时与输送轨一（4）和出料道（21）相通。5.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述档杆一（5）位于输送轨一（4）和输送轨二（41）交接的位置。6.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述转盘（62）的表面开设有均匀的弧形滑槽，与凸块（611）相适配，槽口（631）均匀分布在转向盘（63）的内部，与转盘（62）表面的弧形滑槽相对应，槽口（631）与输送轨二（41）远离进料道（2）的一端和交接部（42）远离输送轨一（4）和出料道（21）的一端相适配，槽口（631）的下侧与传动带（11）的表面相通。7.根据权利要求1所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述进料道（2）的表面设置有监测器件（3），档杆一（5）靠近输送轨一（4）的一端设置有限位块（51），所述输送轨一（4）远离进料道（2）的一端设置有档杆二（52），所述支撑盘（1）的内部设置有电源线圈（7），所述电源线圈（7）的侧面设置有滑杆（8），所述滑杆（8）的表面滑动连接有驱动滑块（81），所述驱动滑块（81）的表面设置有电磁组（9）。8.根据权利要求7所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述监测器件（3）与电源线圈（7）之前为电连接。9.根据权利要求7所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述档杆二（52）与档杆一（5）的结构相同，档杆二（52）表面设有限位块（51）的一端位于交接部（42）的内部。10.根据权利要求7所述的一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置，其特征在于：所述滑杆（8）有两个，滑杆（8）表面的驱动滑块（81）分别与档杆一（5）和档杆二（52）远离限位块（51）的一端滑动连接，电磁组（9）与电源线圈（7）之间为电连接。2CN114669491A说明书1/4页一种新型电子元器件检测用辅助筛选装置技