成像仿真方法、装置、电子设备和存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111105488A(43)申请公布日2020.05.05(21)申请号201911325493.5(22)申请日2019.12.20(71)申请人成都纵横自动化技术股份有限公司地址610000四川省成都市高新区天府五街200号3号楼A区8层801-805室(72)发明人刘夯饶丹曹治锦王陈(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463代理人刘亚飞(51)Int.Cl.G06T15/00(2011.01)G06T17/05(2011.01)权利要求书2页说明书7页附图3页(54)发明名称成像仿真方法、装置、电子设备和存储介质(57)摘要本发明涉及计算机成像仿真技术领域，提供一种成像仿真方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：获取传感器的外参数、传感器的几何参数、传感器的内参数；根据传感器的内参数、传感器的几何参数确定待成像的仿真像片；依据传感器的内参数、传感器的几何参数、传感器的外参数、预设数字表面模型及预设地图，确定待成像的仿真像片中每一像点的像元值，得到包含所有像点的像元值的仿真像片。相对于现有技术，本发明由于不需要基于三维引擎进行开发即可得到仿真图像，因而可以极大地减少成像仿真的计算量、降低对计算机图形渲染能力的要求，更易于实现。CN111105488ACN111105488A权利要求书1/2页1.一种成像仿真方法，其特征在于，所述方法包括：获取传感器的外参数、所述传感器的几何参数、所述传感器的内参数；根据所述传感器的内参数、所述传感器的几何参数确定待成像的仿真像片；依据所述传感器的内参数、所述传感器的几何参数、所述传感器的外参数、预设数字表面模型及预设地图，确定所述待成像的仿真像片中每一像点的像元值，得到包含所有像点的像元值的仿真像片。2.如权利要求1所述的成像仿真方法，其特征在于，所述依据所述传感器的内参数、所述传感器的几何参数、所述传感器的外参数、预设数字表面模型及预设地图，确定所述待成像的仿真像片中每一像点的像元值，得到包含所有像点的像元值的仿真像片的步骤，包括：基于所述传感器的外参数、所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点在所述预设数字表面模型上对应的物点的地理空间坐标；依据每一所述物点的地理空间坐标，从所述预设地图中确定与每一所述物点对应的像点的像元值。3.如权利要求2所述的成像仿真方法，其特征在于，所述基于所述传感器的外参数、所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点在所述预设数字表面模型中对应的物点的地理空间坐标的步骤，包括：基于所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点的平面坐标；基于所述传感器的外参数，通过中心投影逆变换确定所述平面坐标在所述预设数字表面模型中对应的物点的地理空间坐标。4.如权利要求2所述的成像仿真方法，其特征在于，所述依据每一所述物点的地理空间坐标，从所述预设地图中确定与每一所述物点对应的像点的像元值的步骤，包括：依据所有所述物点的地理空间坐标，从所述预设地图确定目标地图区域，并获取所述目标地图区域的视口图像；对每一所述物点的地理空间坐标进行仿射变换，得到每一所述物点在所述视口图像中对应的地图视口坐标；根据每一地图视口坐标进行像元值采样，将得到的像元值作为与每一所述物点对应的像点的像元值。5.一种成像仿真装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取传感器的外参数、所述传感器的几何参数、所述传感器的内参数；确定模块，用于根据所述传感器的内参数、所述传感器的几何参数确定待成像的仿真像片；生成模块，用于依据所述传感器的内参数、所述传感器的几何参数、所述传感器的外参数、预设数字表面模型及预设地图，确定所述待成像的仿真像片中每一像点的像元值，得到包含所有像点的像元值的仿真像片。6.如权利要求5所述的成像仿真装置，其特征在于，所述生成模块具体用于：基于所述传感器的外参数、所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点在所述预设数字表面模型上对应的物点的地理空间坐标；依据每一所述物点的地理空间坐标，从所述预设地图中确定与每一所述物点对应的像2CN111105488A权利要求书2/2页点的像元值。7.如权利要求6所述的成像仿真装置，其特征在于，所述生成模块执行基于所述传感器的外参数、所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点在所述预设数字表面模型上对应的物点的地理空间坐标的方式包括：基于所述传感器的几何参数及所述传感器的内参数，确定所述待成像的仿真像片中每一像点的平面坐标；基于所述传感器的外参数，通过中心投影逆变换确定所