厚度检测装置及其制造方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN104183052104183052A(43)申请公布日2014.12.03(21)申请号201310198864.4(22)申请日2013.05.24(71)申请人北京嘉岳同乐极电子有限公司地址100083北京市海淀区信息路甲28号科实大厦B座10层A-1(72)发明人刘乐杰彭春雷(74)专利代理机构广州三环专利代理有限公司44202代理人张艳美郝传鑫(51)Int.Cl.G07D7/16(2006.01)G01B7/06(2006.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书7页说明书7页附图9页附图9页(54)发明名称厚度检测装置及其制造方法(57)摘要本发明公开一种厚度检测装置，其外壳呈中空结构且一端开设有窗口，第一磁体的一端具有向外凸伸而形成的凸台，第一磁体滑动地设置于外壳的中空结构内，且凸台凸伸出窗口外，弹性件设置于外壳的中空结构内，且弹性件的一端与第一磁体相抵触，其另一端与固定连接于外壳内的电路板相抵触，磁传感器设置于电路板的一侧面上且与第一磁体相对并保持一间隔，导电焊针连接于电路板的另一侧面且伸出外壳之外；该检测装置的检测精度高，且结构简单，生产成本低，具有更广泛的应用。本发明还公开一种厚度检测装置制造方法。CN104183052ACN1048352ACN104183052A权利要求书1/2页1.一种厚度检测装置，其特征在于：包括外壳、第一磁体、弹性件、磁传感器、电路板及导电焊针，所述外壳呈中空结构且一端开设有窗口，所述第一磁体的一端具有向外凸伸而形成的凸台，所述第一磁体滑动地设置于所述外壳的中空结构内，且所述凸台凸伸出所述窗口外，所述弹性件设置于所述外壳的中空结构内，且所述弹性件的一端与所述第一磁体相抵触，所述弹性件的另一端与固定连接于所述外壳内的所述电路板相抵触，所述电路板固定连接于所述外壳内远离所述窗口的另一端，所述磁传感器设置于所述电路板的一侧面上，且所述磁传感器与所述第一磁体相对并保持一间隔，所述导电焊针连接于所述电路板的另一侧面，且所述导电焊针伸出所述外壳之外。2.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述第一磁体具有一基部，所述基部具有相互平行的上底面及下底面，所述上底面上具有向上凸伸形成的所述凸台，所述下底面与所述弹性件相抵触。3.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述第一磁体为永磁体或部分为永磁体。4.如权利要求3所述的厚度检测装置，其特征在于：所述永磁体采用钕铁硼、钐钴、铝镍钴、铁氧体、坡莫合金或矽钢片制作，或者采用金属材料、非金属材料制作并在其外表面镀覆铬、镍铁或坡莫合金的镀层而形成。5.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述弹性件呈柱状，所述弹性件罩设于所述磁传感器外并与所述电路板直接或间接地相抵触。6.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述磁传感器由至少两条磁敏感薄膜制成，所述磁敏感薄膜通过与其首尾相连的电极连接成惠斯通半桥电桥或惠斯通全桥电桥。7.如权利要求6所述的厚度检测装置，其特征在于：所述磁敏感薄膜为各向异性磁阻AMR膜、巨磁磁阻GMR膜、隧道效应磁阻TMR膜、霍尔HALL效应磁敏感薄膜或巨霍尔效应薄膜。8.如权利要求6所述的厚度检测装置，其特征在于：所述磁敏感薄膜呈连续不间断性或呈间断性，各间断性的磁敏感薄膜之间通过沉积、镀膜、溅射方式形成的导电层电性连接。9.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述磁传感器的磁敏感方向与所述第一磁体的磁力线方向平行或成一斜角。10.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：所述磁传感器与所述第一磁体之间的间隔为空间距离或由柔性材料构成的柔性体间隔。11.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于：还包括一具有第二磁体的弹性组件，所述弹性组件设置于所述弹性件与所述电路板之间，所述弹性件的端部与所述弹性组件的一侧相接触，所述弹性组件的另一侧设置于所述电路板上，且所述第二磁体与所述第一磁体相对，所述第二磁体与所述第一磁体的相对端的极性相同。12.如权利要求11所述的厚度检测装置，其特征在于：所述弹性组件还包括弹性板及支架，所述支架上开设有通孔，所述弹性板支撑于所述支架的一侧面并对应于所述通孔，所述第二磁体连接于所述弹性板的侧面上并与所述第一磁体相对，所述支架的另一侧面设置于所述电路板上，且所述第二磁体与所述磁传感器相对应。2CN104183052A权利要求书2/2页13.如权利要求12所述的厚度检测装置，其特征在于：所述弹性板的边缘形成支撑部，所述弹性片的中心处形成活动部，所述支撑部与所述活动部之间设置有多个弹性臂，所述活动部、弹性臂及支撑部之间均具有一定的间隙，所述间隙中均分布有连接桥以连接相邻的活动部、