一种气体密度继电器校验装置及其校验方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110412460A(43)申请公布日2019.11.05(21)申请号201910830149.5(22)申请日2019.09.04(71)申请人上海乐研电气有限公司地址201802上海市嘉定区南翔镇蕰北公路1755弄35号-1一层A区、三层(72)发明人金海勇吴叶弘黄小泵曾伟郝彩侠王乐乐(74)专利代理机构上海海钧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31330代理人许兰(51)Int.Cl.G01R31/327(2006.01)G01N9/00(2006.01)G01D21/02(2006.01)权利要求书10页说明书16页附图2页(54)发明名称一种气体密度继电器校验装置及其校验方法(57)摘要本申请提供一种气体密度继电器校验装置及其校验方法，包括温度调节机构、至少一个压力传感器、至少一个温度传感器、计算机数据处理系统和接点信号采样单元。校验时，将温度调节机构与气体密度继电器相对设置，通过温度调节机构调节所述气体密度继电器的温度补偿元件的温度升降，使所述气体密度继电器发生接点信号动作，根据接点动作时的压力值、温度值得到气体密度值，检测出气体密度继电器的接点信号动作值，完成气体密度继电器的接点信号动作值的校验工作。本申请的气体密度继电器校验装置，能在各种场合都能准确地校验各种测量原理的气体密度继电器，特别适合不用安装三通阀的气体密度继电器，也不用拆卸气体密度继电器就能实现校验。CN110412460ACN110412460A权利要求书1/10页1.一种气体密度继电器校验装置，其特征在于，包括：温度调节机构、至少一个压力传感器、至少一个温度传感器、计算机数据处理系统和接点信号采样单元；其中，所述温度调节机构为温度可调的调节机构，所述温度调节机构被配置为调节气体密度继电器的温度补偿元件的温度升降，使所述气体密度继电器发生接点动作；所述接点信号采样单元，与所述气体密度继电器的接点相连接，被配置为采样所述气体密度继电器的接点发生动作时产生的接点信号，所述接点信号包括报警、和/或闭锁；所述计算机数据处理系统，分别与所述压力传感器、所述温度传感器、所述温度调节机构和所述接点信号采样单元相连接，被配置为完成所述温度调节机构的控制，压力值采集和温度值采集、和/或气体密度值采集，以及检测所述气体密度继电器的接点信号动作值和/或接点信号返回值。2.根据权利要求1所述的一种气体密度继电器校验装置，其特征在于：所述计算机数据处理系统获取所述气体密度继电器发生接点动作或切换时、所述压力传感器和温度传感器采集的气体密度值，完成对气体密度继电器的校验；或者，所述计算机数据处理系统获取所述气体密度继电器发生接点动作或切换时、所述压力传感器采集的压力值和温度传感器采集的温度值，并按照气体压力-温度特性换算成为对应20℃的压力值，即气体密度值，完成对气体密度继电器的校验。3.根据权利要求1所述的一种气体密度继电器校验装置，其特征在于：所述气体密度继电器校验装置还包括气源提供机构，所述气源提供机构在气路上与被校验的气体密度继电器相连通，用于为气体密度继电器提供一设定压力的气源；所述气源提供机构包括、但不限于储气罐、微型气瓶、造压泵、增压泵、电动气泵、电磁气泵中的一种。4.根据权利要求1所述的一种气体密度继电器校验装置，其特征在于：所述温度调节机构为加热元件；或者，所述温度调节机构包括加热元件、保温件、温度控制器、温度检测器、温度调节机构外壳；或者，所述温度调节机构包括加热元件和温度控制器；或者，所述温度调节机构包括加热元件、加热功率调节器和温度控制器；或者，所述温度调节机构包括加热元件、制冷元件、功率调节器和温度控制器；或者，所述温度调节机构包括加热元件、加热功率调节器和恒温控制器；或者，所述温度调节机构包括加热元件、温度控制器、温度检测器；或者，所述温度调节机构为加热元件，所述加热元件设置在温度补偿元件附近；或者，所述温度调节机构为微型恒温箱；其中，所述加热元件的数量为至少一个，所述加热元件包括、但不限于硅橡胶加热器、电阻丝、电热带、电热棒、热风机、红外线加热器件、半导体中的一种；所述温度控制器，连接所述加热元件，用于控制加热元件的加热温度，所述温度控制器包括、但不限于PID控制器、PID与模糊控制相组合的控制器、变频控制器、PLC控制器中的一种。5.根据权利要求1所述的一种气体密度继电器校验装置，其特征在于：所述温度调节机构设置在被校验的气体密度继电器的内部；或者，所述温度调节机构设置在被校验的气体密度继电器的外部。2CN110412460A权利要求书2/10页6.根据权利要求1所述的一种气体密度继电器校验装置，其特征在于：所述气体密度继电器校验装置还包括壳体或箱体，所述压力传感器