气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111983441A(43)申请公布日2020.11.24(21)申请号202010836501.9(51)Int.Cl.(22)申请日2020.08.19G01R31/327(2006.01)G01R1/02(2006.01)(71)申请人国网冀北电力有限公司电力科学研G01R1/04(2006.01)究院地址100045北京市西城区复兴门外地藏庵南巷一号申请人华北电力科学研究院有限责任公司上海乐研电气有限公司国家电网有限公司国网冀北电力有限公司(72)发明人李志刚蔡巍金海勇龙凯华徐党国孙云生宁琳如秦逸帆李帆卢毅(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司11127代理人刘飞周达权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法(57)摘要本说明书提供了一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法，该装置包括：恒温箱，用于提供指定温度的恒温环境；密封气室置于恒温箱内，用于使位于其内的校验气体与恒温箱热交换，并在热平衡后提供给与其连接且置于恒温箱内的样品；压力调节器，与密封气室连接，用于调节样品的气体压力，以使样品发生接点动作或接点复位；第一阀，置于密封气室与压力调节器的连接管路上；压力传感器用于采集样品的气体压力；控制处理单元，用于在样品发生接点动作或接点复位时，使第一阀关闭，使恒温箱将样品的气体温度调至指定常温，获取压力传感器在指定常温下采集的气体压力并处理。本说明书可提高气体密度继电器接点校验的准确度。CN111983441ACN111983441A权利要求书1/2页1.一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，包括：恒温箱，用于提供指定温度的恒温校验环境；密封气室，设置于所述恒温箱内，用于使位于其内的校验气体与所述恒温箱进行热交换，并在热平衡后提供给与其连接且设置于所述恒温箱内的气体密度继电器样品；压力调节器，设置于所述恒温箱外，与所述密封气室连接，用于调节所述气体密度继电器样品的气体压力，以使所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；第一阀，设置于所述密封气室与所述压力调节器的连接管路上；压力传感器，用于采集所述气体密度继电器样品的气体压力；控制处理单元，用于在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温，获取所述压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力并处理。2.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述连接管路上设有充气口及用于控制充气口的第二阀，以用于在进行接点温度补偿校验前，对所述密封气室及所述气体密度继电器样品进行抽真空处理和充气处理。3.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述恒温箱、所述第一阀及所述压力调节器受控于所述控制处理单元。4.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室设有滚轮，所述滚轮处设有第一刹车组件。5.如权利要求4所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室的后端设有定位器，所述定位器用于与所述第一刹车组件配合实现对所述密封气室的定位。6.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述接点温度补偿校验装置还包括用于辅助装卸所述密封气室的辅助小车。7.如权利要求6所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述辅助小车的上部设有用于承载所述密封气室的导轨，所述辅助小车的下部设有高度调节器，以用于将所述导轨的上表面调节至与所述恒温箱的腔室底面平齐。8.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述导轨的后端伸出所述辅助小车外，且所述导轨的侧边和前端设有挡板。9.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述辅助小车的车轮处设有第二刹车组件。10.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室的前端设有第一把手；所述辅助小车前端设有第二把手。11.一种气体密度继电器的接点温度补偿校验方法，其特征在于，所述方法利用权利要求1所述的装置实现，其包括以下步骤：在第一阀关闭的状态下，使恒温箱调节至指定温度并达到热平衡；使所述第一阀开启，并使压力调节器调节气体密度继电器样品的气体压力，以使气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，并使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温；2CN111983441A权利要求书2/2页获取压力传感器在所述指定常温下采