半导体装置的制造方法以及衬底处理装置.pdf
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相关资料
半导体装置的制造方法以及衬底处理装置.pdf
本发明提供一种能够在短时间内将吸附在衬底表面等上的多余的原料分子除去的、生产效率高的半导体装置的制造方法、以及衬底处理装置。包括以下工序:第一工序,向收容有衬底的衬底处理室内供给包含规定元素的原料气体,而在衬底上形成包含规定元素的膜;第二工序,向衬底处理室内供给惰性气体来除去残留在衬底处理室内的原料气体;第三工序,向衬底处理室内供给与所述规定元素反应的改质气体,而将通过第一工序在衬底上形成的包含规定元素的膜改质;第四工序,向衬底处理室内供给惰性气体来除去残留在衬底处理室内的改质气体。在进行衬底处理时,在进
衬底处理装置、半导体器件的制造方法以及记录介质.pdf
本发明涉及衬底处理装置、半导体器件的制造方法以及记录介质,提供能够使成膜处理开始时的炉内状况稳定化的技术。具有调整处理炉内的处理环境的前处理工序、处理衬底的成膜工序以及后处理工序的技术,在前处理工序的第一步骤中,判定是否执行对构成装置的部件进行维护的保养制程程序。
半导体器件的制造方法、衬底处理装置以及记录介质.pdf
提供一种得到良好的膜质的衬底处理装置。进行:原料气体供给工序,在将收容于处理室的衬底维持在第一温度的同时,向所述处理室供给原料气体;第一除去工序,向所述处理室供给以比所述第一温度高的第二温度加热的非活性气体,除去残留在所述处理室中的所述原料气体;反应气体供给工序,向所述处理室供给反应气体;以及第二除去工序,向所述处理室供给非活性气体,除去残留在所述处理室中的所述反应气体。
半导体装置的制造方法及衬底处理装置.pdf
本发明提供半导体装置的制造方法,该方法包括以下工序:将衬底装载到反应炉内的工序;在所述反应炉内,在所述衬底上进行成膜的工序;将成膜后的所述衬底从所述反应炉内卸载的工序;卸载所述衬底后,在所述反应炉内没有所述衬底的状态下,通过向以被覆所述反应炉的方式设置的绝热外壳和所述反应炉之间的空间内流入冷却介质,对所述反应炉内进行强制冷却,同时,通过向所述反应炉内部流入清洗用气体,对所述反应炉内进行气体清洗的工序。
衬底处理装置、半导体器件的制造方法以及炉口部罩.pdf
提供一种能够抑制副生成物的附着且能够抑制产生微粒的技术。具有:反应管,其处理衬底;炉口部,其设置在反应管的下端,在炉口部的上表面的内周面侧,遍及一周地形成有凹陷部和鼓出部,该鼓出部形成有将凹陷部与内周面连通的至少一个缺口;罩,其从炉口部的内周面隔开规定间隔地设置,并覆盖炉口部的至少所述内周面;和至少一个气体供给部,其向炉口部的凹陷部供给气体。