石蜡浴加热挥硅检测多晶硅中杂质的预处理方法.pdf
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本发明涉及一种多晶硅杂质检测预处理方法,具体涉及一种石蜡浴加热挥硅检测多晶硅中杂质的预处理方法,将多晶硅样品加入PTFE烧杯中,依次加入甘露醇、氢氟酸和硝酸,反应至多晶硅样品完全消解,然后在水浴加热锅中加入石蜡,将PTFE烧杯放入石蜡中加热挥硅、酸度调节后定容,最后检测多晶硅中的杂质含量。本发明的优点在于:(1)由于可以最大限度的保留硼元素,可以使多晶硅中硼元素其它杂质元素同时检测,不需要再单独对硼元素检测;(2)PTFE烧杯内液体受热均匀,易于精确控制挥硅温度;(3)硼元素保留作用明显,硼元素的回收率可
多晶硅中杂质含量、分布及其检测方法的探讨.docx
多晶硅中杂质含量、分布及其检测方法的探讨摘要:多晶硅是半导体材料中广泛使用的材料,其性能和纯度直接关乎电子器件的性能。本文探讨了多晶硅中杂质含量、分布及其检测方法,重点介绍了传统的SPV检测法、电感耦合等离子体质谱、微探针等方法的优缺点,以及未来可能发展的方向。关键词:多晶硅、杂质、分布、检测方法、SPV检测法、电感耦合等离子体质谱、微探针1.引言多晶硅是半导体材料中广泛使用的材料,电子行业、太阳能电池产业、半导体光电子产业等都有广泛应用。多晶硅的研究一直是半导体领域中一个重要的领域。多晶硅的性能与纯度直
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检测块状多晶硅杂质的装置及其用途、检测方法.pdf
本发明公开了检测块状多晶硅杂质的装置及其用途、检测方法。该装置包括区熔炉,区熔炉包括硅棒基底、硅棒底座、第一籽晶旋转固定件、加热线圈和旋转支撑部。硅棒基底上部设有凹槽;硅棒底座设在所述硅棒基底下部并支撑所述硅棒基底;第一籽晶旋转固定件包括第一螺杆和第一籽晶夹头,设在区熔炉上部;加热线圈设在第一籽晶旋转固定件与硅棒基底之间,且加热线圈在水平面上的投影位于硅棒基底在水平面上的投影区域外;旋转支撑部设在所述区熔炉底部并支撑所述硅棒底座。该装置结构简单、操作方便,能够实现块状多晶硅向多晶硅棒的转变,进而通过对多晶