遗留物检测装置、方法和系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106408554A(43)申请公布日2017.02.15(21)申请号201510463456.6(22)申请日2015.07.31(71)申请人富士通株式会社地址日本神奈川县川崎市(72)发明人张楠(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司11127代理人陶海萍樊一槿(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)权利要求书2页说明书11页附图6页(54)发明名称遗留物检测装置、方法和系统(57)摘要本申请提供一种遗留物检测装置、方法和系统，其中，所述装置包括：检测单元，其将获取到的当前帧的每个像素与其背景模型进行匹配，将不匹配的像素作为前景像素在前景掩膜上标记，将每个前景像素对应的前景计数器加1，并更新所述背景模型；标记单元，其对于每个前景像素，在所述前景像素对应的前景计数器的值大于第二阈值时，在遗留掩膜上标记对应所述前景像素的点；掩膜处理单元，其对于遗留掩膜上的每个点，根据其背景模型和缓存背景或前景掩膜对所述遗留掩膜进行处理。本申请增加了遗留物的缓存背景，由此能够判断出遗留物什么时候离开并且停留了多久，也可以避免遮挡和鬼影的干扰，解决了非法占道识别的问题。CN106408554ACN106408554A权利要求书1/2页1.一种遗留物检测装置，其中，所述装置包括：检测单元，其将获取到的当前帧的每个像素与其背景模型进行匹配，将不匹配的像素作为前景像素在前景掩膜上标记，将每个前景像素对应的前景计数器加1，并更新所述背景模型；标记单元，其对于每个前景像素，在所述前景像素对应的前景计数器的值大于第二阈值时，在遗留掩膜上标记对应所述前景像素的点；掩膜处理单元，其对于遗留掩膜上的每个点，根据其背景模型和缓存背景或前景掩膜对所述遗留掩膜进行处理。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置还包括：图像处理单元，其在当前帧的帧号小于第一阈值时，利用三帧差法处理所述前景像素。3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述检测单元还用于在所述前景像素对应的前景计数器的值为1时，在缓存背景中保存所述前景像素的背景模型的平均值。4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述掩膜处理单元包括：第一判断模块，其根据背景模型和缓存背景判断所述点是否是鬼影点；第一处理模块，其在所述第一判断模块判断为是时，在所述遗留掩膜上去掉所述点；在所述第一判断模块判断为否时，在所述遗留掩膜上保留所述点。5.根据权利要求4所述的装置，其中，如果所述点的遗留计数结果大于预定阈值，并且，其缓存背景与当前背景模型匹配，则所述第一判断模块判定为所述点为鬼影点。6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述掩膜处理单元包括：第二判断模块，其判断所述点的缓存背景与所述当前帧是否匹配；第二处理模块，其在所述第二判断模块判断为是时，在所述遗留掩膜上去掉所述点；在所述第二判断模块判断为否时，在所述遗留掩膜上保留所述点。7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述掩膜处理单元包括：第三判断模块，其判断所述点在遗留掩膜和前景掩膜上对应的像素值是否都不为0；第三处理模块，其在所述第三判断模块判断为是时，在所述遗留掩膜上保留所述点；在所述第三判断模块判断为否时，在所述遗留掩膜上去掉所述点。8.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置还包括：提取单元，其提取所述遗留掩膜上的点的位置特征和停留时间特征；聚类单元，其根据所述遗留掩膜上的点的位置特征和停留时间特征对所述遗留掩膜上的点进行聚类，得到多个遗留区块；匹配单元，其将当前帧的遗留区块与之前帧的遗留区块进行匹配，为每个遗留区块标记对应的ID并统计每个遗留区块的停留时间；处理单元，其根据每个遗留区块的停留时间进行预定处理。9.一种遗留物检测方法，其中，所述方法包括：将获取到的当前帧的每个像素与其背景模型进行匹配，将不匹配的像素作为前景像素在前景掩膜上标记，将每个前景像素对应的前景计数器加1，并更新所述背景模型；对于每个前景像素，在所述前景像素对应的前景计数器的值大于第二阈值时，在遗留掩膜上标记对应所述前景像素的点；对于遗留掩膜上的每个点，根据其背景模型和缓存背景或前景掩膜对所述遗留掩膜进2CN106408554A权利要求书2/2页行处理。10.一种视频监控系统，所述系统包括：摄像机，其拍摄视频，获得视频数据；遗留物检测装置，其对来自所述摄像机的视频数据中的每一帧图像进行处理，以检测遗留物；其中，所述遗留物检测装置包括：检测单元，其将获取到的当前帧的每个像素与其背景模型进行匹配，将不匹配的像素作为前景像素在前景掩膜上标记，将每个前景像素对应的前景计数器加1，并更新所述背景模型；标记单元，其对于每个前景像素，在所述前景像素对应的前景计数器的值大于第二阈值时，在遗留掩膜上标记对应所述