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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106773178A(43)申请公布日2017.05.31(21)申请号201710008478.2(22)申请日2017.01.05(71)申请人合肥鑫晟光电科技有限公司地址230011安徽省合肥市新站区工业园内申请人京东方科技集团股份有限公司(72)发明人盛化鹏李世军孔剑吴佳伟吴恒(74)专利代理机构北京同达信恒知识产权代理有限公司11291代理人黄志华(51)Int.Cl.G02F1/13(2006.01)G01R1/073(2006.01)权利要求书1页说明书6页附图4页(54)发明名称一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置(57)摘要本发明涉及一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置,用以解决目前探针部件在点灯检测过程中,探针的耐用性较差,残留的玻璃碎屑等异物会划断连接线的问题。该探针部件包括:绝缘层,探针,以及连接线;其中,绝缘层设置有过孔;连接线设置于绝缘层的一表面;探针设置在过孔中,且一端凸出于过孔、另一端与连接线相连。本发明将探针设置到绝缘层的过孔中,可以对探针的侧面进行支撑,缓解探针正面的压力,提高探针受力强度,进而提高制作探针的高度;同时将连接线设置在绝缘层上远离探针凸出于过孔的一侧,可以避免连接线被异物划断,从而提高了探针部件的使用寿命。CN106773178ACN106773178A权利要求书1/1页1.一种探针部件,其特征在于,包括:绝缘层,探针,以及连接线;其中,所述绝缘层设置有过孔;所述连接线设置于所述绝缘层的一表面;所述探针设置在所述过孔中,且一端凸出于所述过孔、另一端与所述连接线相连。2.如权利要求1所述的探针部件,其特征在于,所述绝缘层的材料为聚酰亚胺。3.如权利要求1所述的探针部件,其特征在于,所述探针凸出于所述过孔的高度为0.015mm-0.03mm。4.如权利要求1所述的探针部件,其特征在于,所述探针部件包括多个过孔,所述多个过孔在所述绝缘层上按照第一间隔平行排列。5.如权利要求1所述的探针部件,其特征在于,所述探针部件包括多个过孔,所述多个过孔在所述绝缘层上按照第二间隔排列,且所述多个过孔中每连续的两个或多个过孔之间错位排列。6.如权利要求1所述的探针部件,其特征在于,每个所述连接线完全覆盖与该所述连接线对应的过孔。7.一种探针块,其特征在于,包括:柔性电路,驱动集成电路,以及如权利要求1-6中任一项所述的探针部件。8.一种检测装置,包括信号转换装置,其特征在于,所述检测装置还包括如权利要求7所述的探针块。9.一种如权利要求1-6任一项所述探针部件的制作方法,其特征在于,包括:在载体上形成一整层的绝缘层;在所述绝缘层的一侧表面上形成连接线;在所述绝缘层上远离所述连接线的一侧制作过孔,并使所述过孔仅贯穿所述绝缘层;在所述过孔中制作探针,并使所述探针的一端凸出于所述过孔,另一端与所述连接线相连。10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,在所述过孔中制作探针,具体包括:在所述过孔中采用过孔电镀工艺制作探针。2CN106773178A说明书1/6页一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置技术领域[0001]本发明涉及显示、检测技术领域,尤其涉及一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置。背景技术[0002]目前,在液晶面板制造过程中,需要多道检测工序来及时检查出工程中产生的不良,为降低成本,多数厂家选择在成盒后、贴偏光膜前对面板进行点灯检测。现有的探针块的结构由柔性电路、驱动集成电路、以及薄膜探针部件组成;在点灯测试过程中,需要将前端薄膜探针部件与显示面板上每个信号输入端子精确接触,以便能够将每一个数据线和栅线信号单独传到显示面板上对应的信号输入端子上,实现信号的传输。[0003]如图1所示,为现有的探针部件的结构侧视图,包括多个探针01,与每个探针对应的连接线02,以及绝缘层03。在日常生产过程中,探针块上的探针需要与不同显示面板接触进行重复性测试,因而很容易造成探针磨损,而探针的高度较低会影响探针块的使用寿命。另外,前工序生产的显示面板表面时常会残留玻璃碎屑,玻璃碎屑很容易划断探针块的连接线,造成探针块损坏。例如,型号为55的探针块每测试10000片显示面板,就会有3-5个探针发生损坏,生产过程中也经常出现绝缘层和连接线局部烧坏现象。[0004]综上所述,目前探针部件在点灯检测过程中,不仅探针会因为接触磨损而造成耐用性差,而且显示面板信号输入端子上残留的玻璃碎屑等异物会划断连接线,进而降低了探针部件的使用寿命。发明内容[0005]本发明实施例提供的一种探针部件及其制作方法、以及探针块和检测装置,用以解决目前探针部件在点灯检测过程中,不仅探针会因为接触磨损而造成耐用性差,而且显示面板信号