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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108054192A(43)申请公布日2018.05.18(21)申请号201810055710.2(22)申请日2018.01.19(71)申请人武汉华星光电半导体显示技术有限公司地址430070湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室(72)发明人喻蕾李松杉(74)专利代理机构深圳市德力知识产权代理事务所44265代理人林才桂闻盼盼(51)Int.Cl.H01L27/32(2006.01)H01L51/56(2006.01)H01L51/00(2006.01)权利要求书3页说明书8页附图10页(54)发明名称柔性AMOLED基板及其制作方法(57)摘要本发明提供一种柔性AMOLED基板及其制作方法。本发明的柔性AMOLED基板的制作方法包括:形成柔性衬底,所述柔性衬底包括显示区及位于显示区外围的弯折区;在所述柔性衬底上形成缓冲层,去除缓冲层上位于弯折区的部分,保留缓冲层上位于显示区的部分,使得柔性AMOLED基板的弯折区中的无机绝缘层的厚度减小,提升柔性AMOLED基板的弯折区的耐弯折性,从而提高生产良率。本发明的柔性AMOLED基板采用上述方法制得,所述柔性AMOLED基板的弯折区中的无机绝缘层的厚度较小,柔性AMOLED基板的弯折区的耐弯折性较好,生产良率高。CN108054192ACN108054192A权利要求书1/3页1.一种柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,包括:形成柔性衬底(11),所述柔性衬底(11)包括显示区及位于显示区外围的弯折区;在所述柔性衬底(11)上形成缓冲层(12),去除缓冲层(12)上位于弯折区的部分,保留缓冲层(12)上位于显示区的部分。2.如权利要求1所述的柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供刚性载板(10),在所述刚性载板(10)上形成柔性衬底(11),所述柔性衬底(11)包括显示区及位于显示区外围的弯折区;在所述柔性衬底(11)上形成缓冲层(12),在所述缓冲层(12)上形成多晶硅层(13);步骤2、采用一道半色调光罩制程同时对多晶硅层(13)与缓冲层(12)进行图形化处理,得到有源层(20),并且去除缓冲层(12)上位于弯折区的部分,保留缓冲层(12)上位于显示区的部分。3.如权利要求2所述的柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,所述步骤2包括:步骤21、在所述多晶硅层(13)上形成光阻层(15);提供半色调光罩(30),所述半色调光罩(30)上设有第一区域(31)、第二区域(32)及除第一区域(31)与第二区域(32)以外的第三区域(33);所述第一区域(31)对应于有源层预设位置,所述第二区域(32)对应于柔性衬底(11)的弯折区;步骤22、利用所述半色调光罩(30)对所述光阻层(15)进行曝光、显影,使所述光阻层(15)上对应所述半色调光罩(30)的第二区域(32)的部分完全显影掉,所述光阻层(15)上对应所述半色调光罩(30)的第三区域(33)的部分的厚度降低;步骤23、以所述光阻层(15)为蚀刻阻挡层,对所述多晶硅层(13)与缓冲层(12)进行蚀刻,去除所述多晶硅层(13)与缓冲层(12)对应于柔性衬底(11)的弯折区的部分;步骤24、对所述光阻层(15)进行灰化处理,使所述光阻层(15)上对应所述半色调光罩(30)的第三区域(33)的部分完全去除掉,所述光阻层(15)上对应所述半色调光罩(30)的第一区域(31)的部分厚度降低;步骤25、以所述光阻层(15)为蚀刻阻挡层,对所述多晶硅层(13)进行蚀刻,得到有源层(20);步骤26、将剩余的光阻层(15)从有源层(20)上剥离掉。4.如权利要求3所述的柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,所述步骤21中,所述光阻层(15)的材料为正性光阻,所述第二区域(32)的透光率大于所述第三区域(33)的透光率,所述第三区域(33)的透光率大于所述第一区域(31)的透光率。5.如权利要求3所述的柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,所述步骤21中,所述光阻层(15)的材料为负性光阻,所述第一区域(31)的透光率大于所述第三区域(33)的透光率,所述第三区域(33)的透光率大于所述第二区域(32)的透光率。6.如权利要求2所述的柔性AMOLED基板的制作方法,其特征在于,还包括:步骤3、在所述有源层(20)、缓冲层(12)、柔性衬底(11)上形成栅极绝缘层(40),在所述栅极绝缘层(40)上形成栅极(41);采用自对准技术以所述栅极(41)为掩膜板在所述有源层(20)的两端植入掺杂离子,形成源极接触区(21)与漏极接触区(22)以及位于所述源极接触区(21)与漏极接触