一种固态硬盘老化测试装置及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112562779A(43)申请公布日2021.03.26(21)申请号202011416897.8(22)申请日2020.12.07(71)申请人苏州浪潮智能科技有限公司地址215100江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢(72)发明人石云中(74)专利代理机构济南舜源专利事务所有限公司37205代理人孙玉营(51)Int.Cl.G11C29/56(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称一种固态硬盘老化测试装置及方法(57)摘要本发明提供一种固态硬盘老化测试装置及方法，所述装置包括：老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。本发明能够达到对SSD固态硬盘板载NANDFlash颗粒老化效果，降低生产成本，保证SSD固态硬盘出厂运行可靠性及所存储数据的安全性。CN112562779ACN112562779A权利要求书1/1页1.一种固态硬盘老化测试装置，其特征在于，所述装置包括：老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括：所述老化机框内还安装有电源，所述电源与机框控制主板、风扇模组、硬盘模组和硬盘背板供电。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置包括：所述老化机框的进风口一侧排列安装有多个固态硬盘，多个固态硬盘组成硬盘模组；所述硬盘背板紧邻硬盘模组；所述老化机框的出风口一侧的中心位置安装机框控制主板，所述机框控制主板的两侧均安装有电源；两个电源的侧边均相邻风扇模组。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述装置包括：所述老化机框设有多个进风口，所述多个进风口在硬盘模组正对的老化机框面均匀排列；所述老化机框包括多个出风口，风扇模组正对出风口的位置。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置包括：所述老化机柜包括柜门和壳体，所述柜门正对老化机框的进风口一面；所述柜门留有机柜通风口。6.一种固态硬盘老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：在机框控制主板设置老化环境温度门限；所述机框控制主板获取所述温度传感器采集的环境温度；所述机框控制主板比对所述环境温度和所述老化环境温度门限；所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述机框控制主板根据比对结果控制风扇转速，包括：若所述环境温度低于所述老化环境温度门限，则降低风扇转速；若所述环境温度高于所述老化环境温度门限，则调高风扇转速；若所述环境温度等于所述老化环境温度门限，则保持风扇当前转速。2CN112562779A说明书1/3页一种固态硬盘老化测试装置及方法技术领域[0001]本发明涉及硬盘测试技术领域，具体涉及一种固态硬盘老化测试装置及方法。背景技术[0002]SSD固态硬盘在生产加工阶段需要在高温环境下通过SSD控制器对板载NANDFlash颗粒进行老化测试，筛选出NANDFlash颗粒不满足数据存储要求的存储单元并将其标记到坏块表，以避免将数据存放到该存储单元影响SSD固态硬盘可靠性及所存储数据的安全性，但是目前现存SSD高温老化设备一般都通过温箱来控制SSD硬盘老化温度，温箱一般面临成本高，产能扩充等困难。发明内容[0003]针对现有技术的上述不足，本发明提供一种固态硬盘老化测试装置及方法，以解决上述技术问题。[0004]第一方面，本发明提供一种固态硬盘老化测试装置，所述装置包括：[0005]老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；[0006]所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。[0007]进一步的，所述装置包括：[0008]所述老化机框内还安装有电源，所述电源与机框控制主板、风扇模组、硬盘模组和硬盘背板供电。[0009]进一步的，所述装置包括：[0010]所述老化机