一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法、系统及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110111835A(43)申请公布日2019.08.09(21)申请号201910313349.3(22)申请日2019.04.18(71)申请人苏州浪潮智能科技有限公司地址215100江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢(72)发明人王朋(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227代理人罗满(51)Int.Cl.G11C29/54(2006.01)G11C29/56(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图3页(54)发明名称一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法、系统及装置(57)摘要本申请公开了一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法、系统及装置，包括：S11：按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的测试数据；S12：记录待测固态硬盘的IOPS；S13：重复执行S11，直至达到预设的测量轮次，利用测量窗口内每轮得到的待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率；S14：判断是否满足稳态判断条件；S15：如果是，则记录测量窗口内每轮得到的待测固态硬盘的IOPS，得到待测固态硬盘的稳态IOPS曲线；S16：如果否，返回S11，直至达到预设的终止轮次；本申请明确设定了稳态判断条件，确保了输出的稳态IOPS曲线的准确性，同时，无需通过前后多组测试结果来判断是否达到稳态，节省了测试时间，提高了测试效率。CN110111835ACN110111835A权利要求书1/2页1.一种NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，包括：S11：按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的测试数据；其中，所述待测固态硬盘为在存储数据为空的状态下，重新写满数据的额定大小的数据的硬盘，所述测试数据的大小为预设的数据块大小；S12：记录所述待测固态硬盘的IOPS；S13：重复执行S11，直至达到预设的测量轮次，利用测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率；其中，IOPS斜率为测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS拟合的直线的斜率；S14：判断是否同时满足最大IOPS和最小IOPS之差小于等于平均IOPS的10％，最大IOPS和最小IOPS之差等于IOPS斜率的所述测量轮次减一倍；S15：如果是，则记录所述测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS，得到所述待测固态硬盘的稳态IOPS曲线；S16：如果否，返回S11，直至达到预设的终止轮次。2.根据权利要求1所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述待测固态硬盘为在存储数据为空的状态下，进行128K的顺序写，直至总写入量达到硬盘容量的两倍的硬盘。3.根据权利要求2所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述预设的时间阈值为一分钟。4.根据权利要求3所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述测量轮次为5轮。5.根据权利要求1至4任一项所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的所述数据块大小的测试数据的过程，包括：分别设置多种读写比例和数据块大小；利用每种读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预设的时间阈值的测试数据。6.根据权利要求5所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述利用测量窗口内每轮得到的所述待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率的过程，包括：利用测量窗口内按照预设的目标读写比例和目标数据块大小得到的每轮的所述待测固态硬盘的IOPS，得到平均IOPS、最大IOPS、最小IOPS和IOPS斜率。7.根据权利要求5所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述预设的读写比例包括100/0读写，95/5读写，65/35读写，50/50读写，35/65读写，5/95读写和0/100读写；所述预设的数据块大小包括1024KiB，128KiB，64KiB，32KiB，16KiB，8KiB，4KiB和0.5KiB。8.根据权利要求7所述的NVMe固态硬盘IOPS测试方法，其特征在于，所述目标读写比例为100％写，所述目标数据块大小为4KiB。9.一种NVMe固态硬盘IOPS测试系统，其特征在于，包括：写入模块，用于按照预设的读写比例和数据块大小，向待测固态硬盘随机持续写入预2CN110111835A权利要求书2/2页设的时间阈值的测试数据；其中，所述待测固态硬盘为在存储数据为空的状态下，重新写满数据的额定大小的数据的硬盘