多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106680300A(43)申请公布日2017.05.17(21)申请号201710035856.6(22)申请日2017.01.17(71)申请人武汉大学地址430072湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学(72)发明人石见见吴奕初姚春龙刘向兵朱喆劼杨薇王佳恒徐雪慧(74)专利代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)42222代理人胡艳(51)Int.Cl.G01N23/00(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页(54)发明名称多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统(57)摘要本发明公开了一种多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统，多维度正电子湮没寿命谱测量系统和多普勒展宽谱测量系统中均包括反符合系统和三维移动系统。所述的反符合系统包括依次相连的正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，放射源为同位素放射源，其直接滴于闪烁片上。所述的三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。本发明采用反符合系统实现非样品中湮没信息的排除，可提高探测的可靠性和探测精度；采用三维移动平台调整样品与正电子探测器间的距离和方位，可实现单块不规则样品多维度缺陷的精确无损检测。CN106680300ACN106680300A权利要求书1/2页1.一种多维度正电子湮没寿命谱测量系统，其特征是：包括时间测量系统、反符合系统、三维移动系统和控制系统，其中：时间测量系统包括第一BaF2闪烁体探测器、第一恒比甄别器、第一延时箱、第二BaF2闪烁体探测器、第二恒比甄别器、第二延时箱、符合器、时幅转换器和多道分析器；第一BaF2闪烁体探测器、第一恒比甄别器、第一延时箱依次相连；第二BaF2闪烁体探测器、第二恒比甄别器、第二延时箱依次相连；第一恒比甄别器和第二恒比甄别器的输出端还连接符合器；第一延时箱和第二延时箱的输出端均连接时幅转换器，时幅转换器连接多道分析器，多道分析器连接控制系统；反符合系统包括放射源、正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器和第一单道分析器；正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器依次相连；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，且闪烁片和光电倍增管完全避光；放射源为同位素放射源，其直接滴于闪烁片上，并由Kapton膜密封；三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。2.如权利要求1所述的多维度正电子湮没寿命谱测量系统，其特征是：所述的硅油的折射率大于1.3且透射率大于95%。3.如权利要求1所述的多维度正电子湮没寿命谱测量系统，其特征是：所述的正电子探测器设于第一BaF2闪烁体探测器和第二BaF2闪烁体探测器间，且第一BaF2闪烁体探测器和正电子探测器间、以及第二BaF2闪烁体探测器和正电子探测器间均设有屏蔽件。4.如权利要求1所述的多维度正电子湮没寿命谱测量系统，其特征是：所述的三维移动系统包括旋转夹、U型力臂、竖直平移台和水平平移台，竖直平移台设于水平平移台上，U型力臂其中一臂下端连接竖直平移台上端，另一臂下端设有旋转夹。5.如权利要求4所述的多维度正电子湮没寿命谱测量系统，其特征是：所述的U型力臂中设有旋转夹的一臂，该臂与U型力臂横梁的连接处设有旋转轴。6.一种多维度多普勒展宽谱测量系统，其特征是：包括γ能谱测量系统、反符合系统、三维移动系统和控制系统，其中：γ能谱测量系统包括NaI探测器、HP-Ge探测器、第二前置放大器、第三前置放大器、第二谱放大器、第三谱放大器、第二单道分析器、第三单道分析器、符合器、模数转换器和多道分析器，NaI探测器、第二前置放大器、第二谱放大器、第二单道分析器依次相连，HP-Ge探测器、第三前置放大器、第三谱放大器、第三单道分析器依次相连，第二单道分析器和第三单道分析器的输出端分别连接符合器；符合器、模数转换器、多道分析器依次相连，多道分析器连接控制系统，第三谱放大器的输出端还连接模数转换器；反符合系统包括放射源、正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器和第一单道分析器；正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器依次相连；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，且闪烁片和光电倍增管完全避光；放射源为同位素放射源，其直接滴于闪烁片上，并由Kapton膜密封；三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。7.如权利要求6所述的多维度多普勒展宽谱测量系统，其特征是：所述的硅油的折射率大于1.3且透射率大于95%。2CN106680300A权利要求书2/2页8.如权利要求6所述的多维度多普勒展宽谱测量系统，其特征是：所述的三维移动系统包括旋转夹、U型力