用于进行光学的产品验证的方法和系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111971683A(43)申请公布日2020.11.20(21)申请号201980025428.2(74)专利代理机构中国贸促会专利商标事务所(22)申请日2019.04.12有限公司11038代理人俄旨淳(30)优先权数据102018108741.12018.04.12DE(51)Int.Cl.G06K9/00(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日2020.10.12(86)PCT国际申请的申请数据PCT/EP2019/0594662019.04.12(87)PCT国际申请的公布数据WO2019/197628DE2019.10.17(71)申请人克勒克纳彭塔普拉斯特有限公司地址德国海利根罗特(72)发明人C·科勒特A·米勒T·奇斯特科瓦权利要求书2页说明书26页附图1页(54)发明名称用于进行光学的产品验证的方法和系统(57)摘要本发明涉及一种用于光学产品验证的方法和系统，其中，用光学上有效的颗粒标识产品，在记录步骤中记录光学上有效的颗粒的基准图像，而在识别步骤中记录光学上有效的颗粒的识别图像，并且通过比对图像数据或由图像数据导出的编码验证产品。CN111971683ACN111971683A权利要求书1/2页1.用于光学的产品验证的方法，所述方法包括：a)用于通过以下方式标识产品的步骤：-将产品包装在薄膜中；或者-给产品或产品的包装配备标签；或者-给产品、产品的包装或设置在产品或产品的包装上的标签配备漆层来进行标识；其中，-所述薄膜、所述标签或所述漆层包含随机分布的、反射和/或发冷光的颗粒；b)用于通过以下方式记录根据a)标识的产品的步骤：-用光照射所述产品，使得所述颗粒进行反射或发冷光；-利用相机记录所述反射和/或发冷光的颗粒的一个或多个数字式的基准图像；以及c)用于通过以下方式验证根据b)记录的产品的步骤：-用光照射所述产品，使得所述颗粒进行反射或发冷光；-利用相机记录所述反射和/或发冷光的颗粒的一个或多个识别图像；-数字式地将所述至少一个识别图像与所述至少一个基准图像进行比对；-如果所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像充分地彼此相符，则显示肯定的验证结果；或者-如果所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像充分地彼此相差，则显示否定的验证结果；其特征在于，数字式地补偿所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像之间由于成像导致的偏差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述薄膜、标签和漆层中的颗粒的密度为30至20000个颗粒/cm3。3.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在记录步骤b)中，以确定的彼此不同的相机视角记录所述反射和/或发冷光的颗粒的两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个基准图像。4.根据权利要求1至3中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证步骤c)中以相同的相机视角记录两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个识别图像。5.根据权利要求1至4中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证步骤c)中，数字式地增强所述一个或多个识别图像。6.根据权利要求1至5中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证步骤c)中，根据所述产品的一个或多个视觉特征或者根据一个或多个取向标志在所述至少一个识别图像和所述一个或多个基准图像之间执行数字式的图像配准。7.根据权利要求1至6中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证中，与所述反射性和/或发冷光的颗粒同时地对设置在所述产品、包装薄膜或标签上的序列号或设置在所述产品、包装薄膜或标签上的数字码、如例如条码或二维码进行成像、数字化或解码，并将其与存储在数据库中的序列号或与存储在数据库中的数字码进行比对。8.根据权利要求1至7中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在标识步骤b)中，在所2CN111971683A权利要求书2/2页述一个或多个基准图像中分别根据反射光的强度或根据发冷光的强度确定所述反射和/或发冷光的颗粒的图像坐标。9.根据权利要求1至8中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证步骤c)中，在所述一个或多个识别图像分别根据反射光的强度或根据发冷光的强度确定所述反射性和/或发冷光的颗粒的图像坐标。10.根据权利要求1至9中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在验证步骤c)中，测量相机的光轴与重力轴线之间的倾斜角度。11.根据权利要求1至10中的一项或多项所述的方法，其特征在于，在标识步骤b)中，将两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个基准图像和/或两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个分别根据一个基准图像计算得出的基准键存储在数据库中。12.用于光学验证产品的系统，