用于X射线检测系统的旋转准直器.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114173668A(43)申请公布日2022.03.11(21)申请号202080055213.8克劳德伯纳德里昂第一大学(22)申请日2020.08.06里昂中央理工大学CPE里昂继续培训与研究学院(30)优先权数据FR19091142019.08.09FR(72)发明人亚尼克·格龙丁菲利普·辛奎因劳伦特·德斯百特(85)PCT国际申请进入国家阶段日皮埃里克·圭拉尔2022.01.28帕特里克·皮泰特(86)PCT国际申请的申请数据(74)专利代理机构北京派特恩知识产权代理有PCT/EP2020/0722082020.08.06限公司11270(87)PCT国际申请的公布数据代理人江海姚开丽WO2021/028327FR2021.02.18(51)Int.Cl.(71)申请人格勒诺布尔大学A61B6/06(2006.01)地址法国圣马丁代雷A61B6/08(2006.01)申请人苏尔基奎尔研究所A61B6/12(2006.01)格勒诺布尔阿尔卑斯大学中心医院A61B6/00(2006.01)格勒诺布尔综合理工学院国家科学研究中心权利要求书4页说明书13页附图11页(54)发明名称用于X射线检测系统的旋转准直器(57)摘要一种用于X射线检测系统的准直装置(1)，准直装置(1)包括：准直器，准直器包括大体平面的支撑件(20)，支撑件由具有部分放射透明度或零放射透明度的材料制成，支撑件(20)围绕旋转轴线(Δ)可旋转地移动，旋转轴线穿过支撑件且垂直于支撑件(20)的第一面，支撑件的第一面作为X射线的入射平面，被称为支撑件的主平面(P)，支撑件(D)在第一面上设置有狭缝(30)，狭缝对X射线完全透明，且狭缝被配置为当准直器暴露于X射线源(10)时产生X射线流，狭缝(30)在支撑件的主平面中沿着与旋转轴线(Δ)相距非零距离(d)的轴线纵向延伸，狭缝(30)延伸穿过支撑件(20)的整个厚度。CN114173668ACN114173668A权利要求书1/4页1.一种用于X射线检测系统的准直装置(1)，所述准直装置(1)包括：准直器，所述准直器包括大体平面的支撑件(20)，所述支撑件由具有部分放射透明度或零放射透明度的材料制成，所述支撑件(20)围绕旋转轴线(Δ)可旋转地移动，所述旋转轴线穿过所述支撑件且垂直于所述支撑件(20)的第一面，所述支撑件的所述第一面作为X射线的入射平面，被称为所述支撑件的主平面(P)，所述支撑件(D)在所述第一面上设置有单个狭缝(30)，所述狭缝对X射线完全透明，且所述狭缝被配置为当所述准直器暴露于X射线源(10)时产生X射线流，所述狭缝(30)在所述支撑件的所述主平面中沿着与所述旋转轴线(Δ)相距非零距离(d)的轴线纵向延伸，所述狭缝(30)延伸穿过所述支撑件(20)的整个厚度。2.根据权利要求1所述的准直装置(1)，其中，所述狭缝(30)在所述支撑件的所述主平面(P)中具有矩形或梯形形状的投影。3.一种X射线检测系统(2)，所述检测系统(2)包括：‑X射线源(10)，所述X射线源被配置为发射X射线束；‑根据前述权利要求中任一项所述的准直装置(1)，所述准直装置放置成在所述支撑件的所述入射平面上接收所述X射线束；‑驱动装置，所述驱动装置被配置为使所述准直装置的所述支撑件(20)围绕所述支撑件的轴线(Δ)以固定的旋转角速度(V)旋转；‑至少一个X射线检测元件，所述至少一个X射线检测元件放置在相对于所述X射线源(10)与所述支撑件(20)相对的采集场中，以当从所述支撑件的所述第一面穿过所述支撑件(20)中的所述狭缝(30)到达相对面的一部分X射线束，在所述支撑件的旋转期间到达所讨论的检测元件时采集X射线。4.根据权利要求3所述的检测系统(2)，其中，来自所述至少一个X射线检测元件的一个检测元件(DT)被配置为在所述支撑件(20)旋转时在两个连续的时间检测穿过所述狭缝(30)的X射线，第一时间(t_α)对应于所述狭缝的第一角位置(α)，且第二时间(t_β)对应于所述狭缝(30)的第二角位置(β)，所述第一角位置和所述第二角位置在所述支撑件的所述主平面(P)中限定交点(C)，所述交点(C)对应于所述检测元件(DT)在所述支撑件(20)的所述主平面中的投影位置(PT)；所述检测系统(2)包括处理单元(50)，所述处理单元被配置为根据所述第一角位置和所述第二角位置确定所述检测元件(DT)在所述支撑件的所述主平面(P)中的投影位置(C)。5.根据权利要求4所述的检测系统，所述处理单元被配置为基于所述第一时间和所述第二时间以及所述支撑件的所述角速度来确定所述第一角位置和所述第二角位置。6.根据权利要求4所述的检测系统(2)，所述检测系统进一步包括：