一种基于半导体芯片制作用晶圆激光切割方法.pdf
An****99
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一种基于半导体芯片制作用晶圆激光切割方法.pdf
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一种晶圆芯片的切割方法.pdf
本发明公开了一种晶圆芯片的切割方法,包括步骤:刀具根据预设的进刀方向以第一刀高在晶圆工件上切开第一切痕,该第一切痕深度小于所述晶圆工件的厚度;刀具在所述第一切痕的基础上根据预设进刀方向的反方向以第二刀高在晶圆工件上切开第二切痕,第二切痕的厚度大于所述晶圆工件的厚度;刀具以预设的进刀顺序对晶圆工件进行切割,所述刀具只有一侧裸露有硬质颗粒。本发明减少了传统玻璃晶圆切割方法带来的崩边问题,并避免了黑膜脱落并残留在蓝膜上,可最大限度地抑制切割芯片时产生的背面崩裂及芯片破损,有效提高了提高芯片抗折强度。
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本发明公开了一种晶圆对晶圆的半导体激光器芯片老化测试装置及方法,包括测试机台,所述测试机台上设有载入待测晶圆的样品台,所述测试机台上的检测部件为测试晶圆,所述测试晶圆包括与待测晶圆轮廓相同的检测块,所述检测块表面均匀分布有与待测晶圆上若干个半导体激光器芯片一一对应的凸台,每个所述凸台与设置在检测块上的电路电连接;所述测试晶圆上还设有视觉识别的字符。本发明采用测试晶圆对待测晶圆测试的方式,实现了从采用探针单个测试的方式到采用测试晶圆批量测试的改进,提升老化测试效率,从而提高了生产效率。